Buch, Englisch, Band 337, 600 Seiten, Format (B × H): 164 mm x 241 mm, Gewicht: 1013 g
Reihe: NATO Science Series E:
Buch, Englisch, Band 337, 600 Seiten, Format (B × H): 164 mm x 241 mm, Gewicht: 1013 g
Reihe: NATO Science Series E:
ISBN: 978-0-7923-4569-5
Verlag: Springer
Zielgruppe
Research
Autoren/Hrsg.
Fachgebiete
- Technische Wissenschaften Technik Allgemein Konstruktionslehre und -technik
- Technische Wissenschaften Elektronik | Nachrichtentechnik Elektronik Bauelemente, Schaltkreise
- Mathematik | Informatik EDV | Informatik Professionelle Anwendung Computer-Aided Design (CAD)
- Mathematik | Informatik EDV | Informatik Angewandte Informatik Computeranwendungen in Wissenschaft & Technologie
- Technische Wissenschaften Technik Allgemein Computeranwendungen in der Technik
- Mathematik | Informatik EDV | Informatik Informatik
- Technische Wissenschaften Elektronik | Nachrichtentechnik Elektronik Mikroprozessoren
- Geisteswissenschaften Design Produktdesign, Industriedesign
Weitere Infos & Material
Foreword. 1. Introduction; W. Nebel.2. Application and Technology Forecast; D.J. Frank.3. Low Power Design Flow and Libraries; M.Laurent, M. Briet.4. Low Power Circuit and Logic Level Design.4.1. Modeling; J. Figueras.4.2. Circuit and Logic Level Design; C. Piguet.4.3. Power Estimation at the Logic Level; W. Nebel.4.4. Advanced Power Estimation Techniques; M. Pedram.5. Power Optimization.5.1. Layout Optimization; J. Cong, et al.5.2. Combinational Circuit Optimization; S. Iman, M. Pedram.5.3. Sequential Synthesis and Optimization for Low Power; E. Macii.5.4. RT and Algorithmic-Level Optimization for Low Power; E. Macii.5.5. High Level Synthesis for Low Power; E. Macii.6. System Level Low Power Design.6.1. Embedded System Design; S.B. Furber.6.2. Power Analysis and Design at System Level; K. Roy.6.3. Software Design for Low Power; K. Roy, M.C.Johnson.7. Asynchronous Design; S.B. Furber.8. Low Voltage Technologies; C. Svensson.9. Case Studies. 9.1. Microprocessor Design; C. Piguet.9.2. Low Power Applications at System Level; L.Claesen, et al. Index.