Pineda de Gyvez | Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models | E-Book | www.sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, Band 208, 167 Seiten

Reihe: The Springer International Series in Engineering and Computer Science

Pineda de Gyvez Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models


Erscheinungsjahr 2013
ISBN: 978-1-4615-3158-6
Verlag: Springer US
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

E-Book, Englisch, Band 208, 167 Seiten

Reihe: The Springer International Series in Engineering and Computer Science

ISBN: 978-1-4615-3158-6
Verlag: Springer US
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Autoren/Hrsg.

Pineda de Gyvez, José
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