Buch, Deutsch, Band 27, 322 Seiten, Format (B × H): 162 mm x 235 mm, Gewicht: 522 g
Reihe: Teubner Texte zur Informatik
Buch, Deutsch, Band 27, 322 Seiten, Format (B × H): 162 mm x 235 mm, Gewicht: 522 g
Reihe: Teubner Texte zur Informatik
ISBN: 978-3-8154-2314-1
Verlag: Vieweg+Teubner Verlag
Dieses Buch spannt einen Bogen von den Defekten bei der Halbleiterfertigung über die klassischen Testmethoden hin zu Selbsttestverfahren und den neuesten Forschungsarbeiten, die auf eine Integration von Entwurf und Test zielen und aus Verhaltensbeschreibungen automatisch gut testbare Schaltungen synthetisieren.
Zielgruppe
Professional/practitioner
Autoren/Hrsg.
Weitere Infos & Material
1 Einleitung.- 1.1 Testprobleme.- 1.2 Selbsttest als Lösung.- 1.3 Aufbau des Buchs.- 2 Defekte und Fehler.- 2.1 Defekte bei der Halbleiterfertigung.- 2.2 Bestimmung der realistischen Fehler.- 3 Teststrategien.- 3.1 Schaltungsbeschreibung.- 3.2 Fehlermodelle und Testmuster.- 3.3 Verbesserung der Testbarkeit.- 3.4 Durchführung des Tests.- 3.5 Auswahl einer Teststrategie.- 4 Methoden und Hardware-Strukturen für Mustererzeugung und Kompaktierung.- 4.1 Rückgekoppelte Schieberegister.- 4.2 Zellulare Automaten.- 4.3 Multifunktionale Testregister.- 4.4 Mustererzeugung und Kompaktierung mit arithmetischen Funktionseinheiten.- 5 Synthese selbsttestbarer Schaltungen.- 5.1 Selbsttestbare Strukturen.- 5.2 Synthese leicht testbarer Steuerwerke.- 5.3 High-Level-Synthese für leicht testbare Datenpfade.- 5.4 Optimaler Testregistereinbau.- 5.5 Planung des Testablaufs.- 6 Schluß.- 7 Literatur.- A Grundbegriffe aus der Graphentheorie.- B Grundbegriffe aus der Theorie der Markovketten.- C Benchmark-Schaltungen.
