Wang / Zhou | Scanning Microscopy for Nanotechnology | Buch | 978-0-387-33325-0 | www.sack.de

Buch, Englisch, 522 Seiten, Format (B × H): 160 mm x 241 mm, Gewicht: 1087 g

Wang / Zhou

Scanning Microscopy for Nanotechnology

Techniques and Applications
2007
ISBN: 978-0-387-33325-0
Verlag: Springer

Techniques and Applications

Buch, Englisch, 522 Seiten, Format (B × H): 160 mm x 241 mm, Gewicht: 1087 g

ISBN: 978-0-387-33325-0
Verlag: Springer


This book presents scanning electron microscopy (SEM) fundamentals and applications for nanotechnology. It includes integrated fabrication techniques using the SEM, such as e-beam and FIB, and it covers in-situ nanomanipulation of materials. The book is written by international experts from the top nano-research groups that specialize in nanomaterials characterization. The book will appeal to nanomaterials researchers, and to SEM development specialists.

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Zielgruppe


Research

Weitere Infos & Material


Fundamentals of Scanning Electron Microscopy (SEM).- Backscattering Detector and EBSD in Nanomaterials Characterization.- X-ray Microanalysis in Nanomaterials.- Low kV Scanning Electron Microscopy.- E-beam Nanolithography Integrated with Scanning Electron Microscope.- Scanning Transmission Electron Microscopy for Nanostructure Characterization.- to In-Situ Nanomanipulation for Nanomaterials Engineering.- Applications of FIB and DualBeam for Nanofabrication.- Nanowires and Carbon Nanotubes.- Photonic Crystals and Devices.- Nanoparticles and Colloidal Self-assembly.- Nano-building Blocks Fabricated through Templates.- One-dimensional Wurtzite Semiconducting Nanostructures.- Bio-inspired Nanomaterials.- Cryo-Temperature Stages in Nanostructural Research.



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