Benninghoven / Evans / Powell | Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II | E-Book | sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, Band 9, 300 Seiten, eBook

Reihe: Springer Series in Chemical Physics

Benninghoven / Evans / Powell Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II

Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27–31, 1979
Erscheinungsjahr 2013
ISBN: 978-3-642-61871-0
Verlag: Springer
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27–31, 1979

E-Book, Englisch, Band 9, 300 Seiten, eBook

Reihe: Springer Series in Chemical Physics

ISBN: 978-3-642-61871-0
Verlag: Springer
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

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Zielgruppe

Research

Autoren/Hrsg.

Benninghoven, A.
Evans, C.A. Jr.
Powell, R.A.
Shimizu, R.
Storms, H.A.

Weitere Infos & Material

I. Fundamentals Chairpersons: D.E. Harrison and C.A. Evans, Jr..- II. Quantitation Chairpersons: D.B. Wittry and P. Williams.- III. Semiconductors Chairpersons: C.W. Magee and W. Werner.- IV. Static SIMS Chairperson: A. Benninghoven.- V. Metallurgy Chairpersons: J.D. Brown and A.P. von Rosenstiel.- VI. Instrumentation Chairpersons: D.S. Simons and F.G. Rüdenauer.- VII. Geology Chairpersons: J. Okano and C. Meyer.- VIII. Panel Discussion Chairperson: I.L. Kofsky.- IX. Biology Chairpersons: M.S. Burns and G.H. Morrison.- X. Combined Techniques Chairpersons: C. Johnson and W.H. Christie.- XI. Postdeadline Papers.- Index of Authors.

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