Döhler | Informationsgewinn durch Messung | Buch | 978-3-8169-2568-2 | www.sack.de

Buch, Deutsch, 308 Seiten, PB, Format (B × H): 148 mm x 210 mm, Gewicht: 465 g

Reihe: Reihe Technik

Döhler

Informationsgewinn durch Messung

Grundlagen und Anwendungen der Signalanalyse
1. Auflage 2005
ISBN: 978-3-8169-2568-2
Verlag: expert-Verlag

Grundlagen und Anwendungen der Signalanalyse

Buch, Deutsch, 308 Seiten, PB, Format (B × H): 148 mm x 210 mm, Gewicht: 465 g

Reihe: Reihe Technik

ISBN: 978-3-8169-2568-2
Verlag: expert-Verlag


Dieses neue Standardwerk der Signalanalyse stellt die verschiedensten Seiten der Signalaufnahme und -auswertung systematisch dar.
Beginnend mit Stochastik und Analysis, führt die Untersuchung des Messprozesses bzw. des allgemeinen Informationsgewinns zur Theoretischen Physik und schließlich zur Behandlung der logischen Größe 'Information'. Die vorgestellte Theorie eröffnet einen Weg von der elementaren Messinformation über die Parameterinformation zur semantischen Information über mathematische, natürliche oder technische Zusammenhänge.

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Zielgruppe


Studenten, Wissenschaftler und Ingenieure in den Bereichen – Naturwissenschaften und Technik – Sensorik – Bioinformatik – Medizinische Biometrie – Ökonometrie


Autoren/Hrsg.


Weitere Infos & Material


Der Autor:
Studium der Physik von 1962 – 1967 in Jena. Promotion über theoretische Festkörper-NMR 1973. Verschiedene Lehrverpflichtungen an der Physikalischen Fakultät der FSU Jena. Ab 1985 Programmentwicklung in einem Technikum für Hard- und Software. Dort entstand die erste Version des Auswertesystems ANASTAT. Habilitation über die Theorie der Spektralinformation von Zeitreihen 1989. Seit 1993 Privatdozent am Institut für Informatik der FSU Jena, Vorlesungen zur Prozessinformatik mit den Gebieten Sensorik, Aktorik, Signalanalyse. Forschungsprojekte zur automatischen Interpretation von GC/AES/MS-Daten und zur Umweltanalytik. Mitbegründer der Firma asphericon GmbH. Jena 2001 zur Herstellung von nicht sphärischen optischen Funktionsflächen auf der Basis von CNC-gesteuerten Schleif- und Poliermaschinen. Mitinhaber von Patenten zur Mess- und Bearbeitungstechnik.



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