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Mathematik | Informatik
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Beyerer / Niggemann Machine Learning for Cyber Physical Systems
Selected papers from the International Conference ML4CPS 20151. Auflage 2016Verlag: SpringerISBN: 978-3-662-48836-2Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Beyerer / Niggemann / Kühnert Machine Learning for Cyber Physical Systems
Selected papers from the International Conference ML4CPS 20161. Auflage 2017Verlag: SpringerISBN: 978-3-662-53805-0Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Beyerer / Hagmanns / Stadler Pattern Recognition
Introduction, Features, Classifiers and Principles2. Auflage 2024Verlag: De GruyterISBN: 978-3-11-133919-1Medium: Buch89,95 € (inkl. MwSt.)
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Beyerer / Niggemann / Maier Machine Learning for Cyber Physical Systems
Selected papers from the International Conference ML4CPS 20201. Auflage 2021Verlag: SpringerISBN: 978-3-662-62745-7Medium: Buch42,79 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Beyerer / Richter / Nagel Pattern Recognition
Introduction, Features, Classifiers and Principles1. Auflage 2017Verlag: De GruyterISBN: 978-3-11-053796-3Medium: eBookFormat: EPUB
Kopierschutz: 6 - ePub Watermark84,95 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Beyerer / Hagmanns / Stadler Pattern Recognition
Introduction, Features, Classifiers and Principles2. Auflage 2024Verlag: De GruyterISBN: 978-3-11-133941-2Medium: eBookFormat: EPUB
Kopierschutz: 6 - ePub Watermark89,95 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Beyerer / Niggemann / Kühnert Machine Learning for Cyber Physical Systems
Selected papers from the International Conference ML4CPS 20181. Auflage 2019Verlag: SpringerISBN: 978-3-662-58484-2Medium: Buch53,49 € (inkl. MwSt.)
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Beyerer / Niggemann / Maier Machine Learning for Cyber Physical Systems
Selected papers from the International Conference ML4CPS 20171. Auflage 2020Verlag: SpringerISBN: 978-3-662-59083-6Medium: Buch53,49 € (inkl. MwSt.)
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Beyerer / Frese / Puente León Machine Vision
Automated Visual Inspection: Theory, Practice and Applications1. Auflage 2016Verlag: SpringerISBN: 978-3-662-47793-9Medium: Buch235,39 € (inkl. MwSt.)
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Beyerer / Frese / Puente León Machine Vision
Automated Visual Inspection: Theory, Practice and ApplicationsSoftcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2016Verlag: SpringerISBN: 978-3-662-50818-3Medium: Buch165,84 € (inkl. MwSt.)
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Beyerer / Puente León / Frese Automatische Sichtprüfung
Grundlagen, Methoden und Praxis der Bildgewinnung und Bildauswertung2., erweiterte und verbesserte Auflage 2016Verlag: SpringerISBN: 978-3-662-47785-4Medium: Buch109,99 € (inkl. MwSt.)
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Niggemann / Beyerer / Krantz Machine Learning for Cyber-Physical Systems
Selected papers from the International Conference ML4CPS 20232024Verlag: Springer Nature SwitzerlandISBN: 978-3-031-47061-5Medium: Buch42,79 € (inkl. MwSt.)
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Dillmann / Beyerer / Hanebeck KI 2010: Advances in Artificial Intelligence
33rd Annual German Conference on AI, Karlsruhe, Germany, September 21-24, 2010, Proceedings1. Auflage 2010Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-16110-0Medium: Buch53,49 € (inkl. MwSt.)
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Beyerer / Meyer / Puente León Automatische Sichtprüfung
Grundlagen, Methoden und Praxis der Bildgewinnung und Bildauswertung3. Auflage 2024Verlag: SpringerISBN: 978-3-662-69950-8Medium: Buch74,99 € (inkl. MwSt.)
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Dillmann / Beyerer / Gindele Autonome Mobile Systeme 2009
21. Fachgespräch Karlsruhe, 3./4. Dezember 20091. Auflage. 2009Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-10283-7Medium: Buch76,99 € (inkl. MwSt.)
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