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Mikroskopie, Spektroskopie

63  Treffer  für „NanoScience and Technology“
    Bhushan | Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 2 | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 2

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2011
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-662-50601-1
    Medium: Buch
    213,99 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan | Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 3 | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 3

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2013
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-662-50725-4
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan | Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 2 | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 2

    1. Auflage 2011
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-10496-1
    Medium: Buch
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    Bhushan | Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 3 | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 3

    2012
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-25413-0
    Medium: Buch
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    Wiesendanger | Atomic- and Nanoscale Magnetism | Buch | Sack Fachmedien

    Wiesendanger Atomic- and Nanoscale Magnetism

    1. Auflage 2018
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-99557-1
    Medium: Buch
    149,79 € (inkl. MwSt.)
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    Kaupp | Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching | Buch | Sack Fachmedien

    Kaupp Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching

    Application to Rough and Natural Surfaces
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2006
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-06663-4
    Medium: Buch
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    Kaupp | Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching | Buch | Sack Fachmedien

    Kaupp Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching

    Application to Rough and Natural Surfaces
    1. Auflage 2006
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-28405-5
    Medium: Buch
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods XIII | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods XIII

    Biomimetics and Industrial Applications
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2009
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09872-7
    Medium: Buch
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    Takagahara / Masumoto | Semiconductor Quantum Dots | Buch | Sack Fachmedien

    Takagahara / Masumoto Semiconductor Quantum Dots

    Physics, Spectroscopy and Applications
    2002
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-42805-3
    Medium: Buch
    320,99 € (inkl. MwSt.)
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods XIII | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods XIII

    Biomimetics and Industrial Applications
    2009
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-85048-9
    Medium: Buch
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods VII | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods VII

    Biomimetics and Industrial Applications
    2007
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-37320-9
    Medium: Buch
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods VII | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods VII

    Biomimetics and Industrial Applications
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2007
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-07213-0
    Medium: Buch
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    Bhushan / Tomitori / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods X | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Tomitori / Fuchs Applied Scanning Probe Methods X

    Biomimetics and Industrial Applications
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09342-5
    Medium: Buch
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    Bhushan / Tomitori / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods X | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Tomitori / Fuchs Applied Scanning Probe Methods X

    Biomimetics and Industrial Applications
    2008
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-74084-1
    Medium: Buch
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    Takagahara / Masumoto | Semiconductor Quantum Dots | Buch | Sack Fachmedien

    Takagahara / Masumoto Semiconductor Quantum Dots

    Physics, Spectroscopy and Applications
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2002
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-07675-6
    Medium: Buch
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    Voigtländer | Scanning Probe Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Voigtländer Scanning Probe Microscopy

    Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy
    2015
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-662-45239-4
    Medium: Buch
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    Foster / Hofer | Scanning Probe Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Foster / Hofer Scanning Probe Microscopy

    Atomic Scale Engineering by Forces and Currents
    and Auflage
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-0-387-40090-7
    Medium: Buch
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    Hofer / Foster | Scanning Probe Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Hofer / Foster Scanning Probe Microscopy

    Atomic Scale Engineering by Forces and Currents
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2006
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-1-4419-2306-6
    Medium: Buch
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    Voigtländer | Scanning Probe Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Voigtländer Scanning Probe Microscopy

    Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy
    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2015
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-662-50557-1
    Medium: Buch
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    Morita / Wiesendanger / Giessibl | Noncontact Atomic Force Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Morita / Wiesendanger / Giessibl Noncontact Atomic Force Microscopy

    Volume 2
    2009
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-26070-4
    Medium: Buch
    235,39 € (inkl. MwSt.)
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    Celano | Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics | Buch | Sack Fachmedien

    Celano Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics

    1. Auflage 2019
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-030-15611-4
    Medium: Buch
    181,89 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan / Hosaka / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods I | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Hosaka / Fuchs Applied Scanning Probe Methods I

    Softcover version of original hardcover Auflage 2004
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-05602-4
    Medium: Buch
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    Bhushan / Hosaka / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods I | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Hosaka / Fuchs Applied Scanning Probe Methods I

    2004
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-00527-8
    Medium: Buch
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    Morita | Roadmap of Scanning Probe Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Morita Roadmap of Scanning Probe Microscopy

    2007
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-34314-1
    Medium: Buch
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    Oepen / Hopster | Magnetic Microscopy of Nanostructures | Buch | Sack Fachmedien

    Oepen / Hopster Magnetic Microscopy of Nanostructures

    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2005
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-07286-4
    Medium: Buch
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