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109  Treffer  für „NanoScience and Technology“
    Moshchalkov / Lang / Woerdenweber | Nanoscience and Engineering in Superconductivity | Buch | Sack Fachmedien

    Moshchalkov / Lang / Woerdenweber Nanoscience and Engineering in Superconductivity

    2010
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-26596-9
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Moshchalkov / Lang / Woerdenweber | Nanoscience and Engineering in Superconductivity | Buch | Sack Fachmedien

    Moshchalkov / Lang / Woerdenweber Nanoscience and Engineering in Superconductivity

    2010
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-15136-1
    Medium: Buch
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    Bhushan | Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 2 | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 2

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2011
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-662-50601-1
    Medium: Buch
    213,99 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan | Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 3 | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 3

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2013
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-662-50725-4
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan | Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 3 | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 3

    2012
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-25413-0
    Medium: Buch
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    Bhushan | Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 2 | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 2

    1. Auflage 2011
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-10496-1
    Medium: Buch
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    Bimberg / Eisenstein | Green Photonics and Electronics | Buch | Sack Fachmedien

    Bimberg / Eisenstein Green Photonics and Electronics

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2017
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-88362-5
    Medium: Buch
    128,39 € (inkl. MwSt.)
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    Bimberg / Eisenstein | Green Photonics and Electronics | Buch | Sack Fachmedien

    Bimberg / Eisenstein Green Photonics and Electronics

    1. Auflage 2017
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-67001-0
    Medium: Buch
    128,39 € (inkl. MwSt.)
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    Zhang / M. Lieber / Zheng | Nanowires | Buch | Sack Fachmedien

    Zhang / M. Lieber / Zheng Nanowires

    Building Blocks for Nanoscience and Nanotechnology
    1. Auflage 2016
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-41979-4
    Medium: Buch
    139,09 € (inkl. MwSt.)
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    Zhang / M. Lieber / Zheng | Nanowires | Buch | Sack Fachmedien

    Zhang / M. Lieber / Zheng Nanowires

    Building Blocks for Nanoscience and Nanotechnology
    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2016
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-82472-7
    Medium: Buch
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    Wiesendanger | Atomic- and Nanoscale Magnetism | Buch | Sack Fachmedien

    Wiesendanger Atomic- and Nanoscale Magnetism

    1. Auflage 2018
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-99557-1
    Medium: Buch
    149,79 € (inkl. MwSt.)
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    Awschalom / Samarth / Loss | Semiconductor Spintronics and Quantum Computation | Buch | Sack Fachmedien

    Awschalom / Samarth / Loss Semiconductor Spintronics and Quantum Computation

    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2002
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-07577-3
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Awschalom / Samarth / Loss | Semiconductor Spintronics and Quantum Computation | Buch | Sack Fachmedien

    Awschalom / Samarth / Loss Semiconductor Spintronics and Quantum Computation

    2002
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-42176-4
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Dubrovskii | Nucleation Theory and Growth of Nanostructures | Buch | Sack Fachmedien

    Dubrovskii Nucleation Theory and Growth of Nanostructures

    2014
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-39659-5
    Medium: Buch
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    Dubrovskii | Nucleation Theory and Growth of Nanostructures | Buch | Sack Fachmedien

    Dubrovskii Nucleation Theory and Growth of Nanostructures

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2014
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-662-50977-7
    Medium: Buch
    192,59 € (inkl. MwSt.)
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    Li / Wang | New Advances in Maxwell's Equations and Applications | Buch | Sack Fachmedien

    Li / Wang New Advances in Maxwell's Equations and Applications

    2024
    Verlag: Springer Nature Switzerland
    ISBN: 978-3-031-75785-3
    Medium: Buch
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    Sidorenko | Functional Nanostructures and Metamaterials for Superconducting Spintronics | Buch | Sack Fachmedien

    Sidorenko Functional Nanostructures and Metamaterials for Superconducting Spintronics

    From Superconducting Qubits to Self-Organized Nanostructures
    1. Auflage 2018
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-90480-1
    Medium: Buch
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    Sidorenko | Functional Nanostructures and Metamaterials for Superconducting Spintronics | Buch | Sack Fachmedien

    Sidorenko Functional Nanostructures and Metamaterials for Superconducting Spintronics

    From Superconducting Qubits to Self-Organized Nanostructures
    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2018
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-030-08026-6
    Medium: Buch
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    Kaupp | Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching | Buch | Sack Fachmedien

    Kaupp Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching

    Application to Rough and Natural Surfaces
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2006
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-06663-4
    Medium: Buch
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    Kaupp | Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching | Buch | Sack Fachmedien

    Kaupp Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching

    Application to Rough and Natural Surfaces
    1. Auflage 2006
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-28405-5
    Medium: Buch
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    Roussignol / Slavcheva | Optical Generation and Control of Quantum Coherence in Semiconductor Nanostructures | Buch | Sack Fachmedien

    Roussignol / Slavcheva Optical Generation and Control of Quantum Coherence in Semiconductor Nanostructures

    2010
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-12490-7
    Medium: Buch
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    Shin / Shim | Physical Design and Mask Synthesis for Directed Self-Assembly Lithography | Buch | Sack Fachmedien

    Shin / Shim Physical Design and Mask Synthesis for Directed Self-Assembly Lithography

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2018
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-030-09455-3
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Shin / Shim | Physical Design and Mask Synthesis for Directed Self-Assembly Lithography | Buch | Sack Fachmedien

    Shin / Shim Physical Design and Mask Synthesis for Directed Self-Assembly Lithography

    1. Auflage 2018
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-76293-7
    Medium: Buch
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    Roussignol / Slavcheva | Optical Generation and Control of Quantum Coherence in Semiconductor Nanostructures | Buch | Sack Fachmedien

    Roussignol / Slavcheva Optical Generation and Control of Quantum Coherence in Semiconductor Nanostructures

    2010
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-26382-8
    Medium: Buch
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    Hahn / Sidorenko / Tiginyanu | Nanoscale Phenomena | Buch | Sack Fachmedien

    Hahn / Sidorenko / Tiginyanu Nanoscale Phenomena

    Fundamentals and Applications
    1. Auflage 2012
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-26122-0
    Medium: Buch
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    Bartolomé / Fernández / Luis | Molecular Magnets | Buch | Sack Fachmedien

    Bartolomé / Fernández / Luis Molecular Magnets

    Physics and Applications
    2014
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-40608-9
    Medium: Buch
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    Nejo | Nanostructures | Buch | Sack Fachmedien

    Nejo Nanostructures

    Fabrication and Analysis
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2007
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-07227-7
    Medium: Buch
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    Hahn / Sidorenko / Tiginyanu | Nanoscale Phenomena | Buch | Sack Fachmedien

    Hahn / Sidorenko / Tiginyanu Nanoscale Phenomena

    Fundamentals and Applications
    Erscheinungsjahr 2009
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-00707-1
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods XIII | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods XIII

    Biomimetics and Industrial Applications
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2009
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09872-7
    Medium: Buch
    117,69 € (inkl. MwSt.)
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    Grundmann | Nano-Optoelectronics | Buch | Sack Fachmedien

    Grundmann Nano-Optoelectronics

    Concepts, Physics and Devices
    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2002
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-62807-8
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Takagahara / Masumoto | Semiconductor Quantum Dots | Buch | Sack Fachmedien

    Takagahara / Masumoto Semiconductor Quantum Dots

    Physics, Spectroscopy and Applications
    2002
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-42805-3
    Medium: Buch
    320,99 € (inkl. MwSt.)
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    Bartolomé / Fernández / Luis | Molecular Magnets | Buch | Sack Fachmedien

    Bartolomé / Fernández / Luis Molecular Magnets

    Physics and Applications
    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2014
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-662-50989-0
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Yi | Semiconductor Nanostructures for Optoelectronic Devices | Buch | Sack Fachmedien

    Yi Semiconductor Nanostructures for Optoelectronic Devices

    Processing, Characterization and Applications
    2012
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-43966-7
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan / Tomitori / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods X | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Tomitori / Fuchs Applied Scanning Probe Methods X

    Biomimetics and Industrial Applications
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09342-5
    Medium: Buch
    117,69 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan / Tomitori / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods X | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Tomitori / Fuchs Applied Scanning Probe Methods X

    Biomimetics and Industrial Applications
    2008
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-74084-1
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Takagahara / Masumoto | Semiconductor Quantum Dots | Buch | Sack Fachmedien

    Takagahara / Masumoto Semiconductor Quantum Dots

    Physics, Spectroscopy and Applications
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2002
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-07675-6
    Medium: Buch
    320,99 € (inkl. MwSt.)
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    Raza | Nanoelectronics Fundamentals | Buch | Sack Fachmedien

    Raza Nanoelectronics Fundamentals

    Materials, Devices and Systems
    1. Auflage 2019
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-030-32571-8
    Medium: Buch
    213,99 € (inkl. MwSt.)
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods VII | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods VII

    Biomimetics and Industrial Applications
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2007
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-07213-0
    Medium: Buch
    117,69 € (inkl. MwSt.)
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    Horing / Ünlü | Low Dimensional Semiconductor Structures | Buch | Sack Fachmedien

    Horing / Ünlü Low Dimensional Semiconductor Structures

    Characterization, Modeling and Applications
    2013
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-44603-0
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Grundmann | Nano-Optoelectronics | Buch | Sack Fachmedien

    Grundmann Nano-Optoelectronics

    Concepts, Physics and Devices
    2002
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-43394-1
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods XIII | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods XIII

    Biomimetics and Industrial Applications
    2009
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-85048-9
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Horing / Ünlü | Low Dimensional Semiconductor Structures | Buch | Sack Fachmedien

    Horing / Ünlü Low Dimensional Semiconductor Structures

    Characterization, Modeling and Applications
    2013
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-28423-6
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods VII | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods VII

    Biomimetics and Industrial Applications
    2007
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-37320-9
    Medium: Buch
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    Yi | Semiconductor Nanostructures for Optoelectronic Devices | Buch | Sack Fachmedien

    Yi Semiconductor Nanostructures for Optoelectronic Devices

    Processing, Characterization and Applications
    2012
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-22479-9
    Medium: Buch
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    Rossi | Theory of Semiconductor Quantum Devices | Buch | Sack Fachmedien

    Rossi Theory of Semiconductor Quantum Devices

    Microscopic Modeling and Simulation Strategies
    2011
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-10555-5
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Rossi | Theory of Semiconductor Quantum Devices | Buch | Sack Fachmedien

    Rossi Theory of Semiconductor Quantum Devices

    Microscopic Modeling and Simulation Strategies
    2011
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-26681-2
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Voigtländer | Scanning Probe Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Voigtländer Scanning Probe Microscopy

    Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy
    2015
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-662-45239-4
    Medium: Buch
    192,59 € (inkl. MwSt.)
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    Voigtländer | Scanning Probe Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Voigtländer Scanning Probe Microscopy

    Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy
    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2015
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-662-50557-1
    Medium: Buch
    192,59 € (inkl. MwSt.)
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    Foster / Hofer | Scanning Probe Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Foster / Hofer Scanning Probe Microscopy

    Atomic Scale Engineering by Forces and Currents
    and Auflage
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-0-387-40090-7
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Subramoney / Rotkin | Applied Physics of Carbon Nanotubes | Buch | Sack Fachmedien

    Subramoney / Rotkin Applied Physics of Carbon Nanotubes

    Fundamentals of Theory, Optics and Transport Devices
    2005
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-23110-3
    Medium: Buch
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    Dragoman | 2D Nanoelectronics | Buch | Sack Fachmedien

    Dragoman 2D Nanoelectronics

    Physics and Devices of Atomically Thin Materials
    1. Auflage 2017
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-48435-8
    Medium: Buch
    117,69 € (inkl. MwSt.)
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    Foster / Hofer | Scanning Probe Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Foster / Hofer Scanning Probe Microscopy

    Atomic Scale Engineering by Forces and Currents
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2006
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-1-4419-2306-6
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Dragoman | 2D Nanoelectronics | Buch | Sack Fachmedien

    Dragoman 2D Nanoelectronics

    Physics and Devices of Atomically Thin Materials
    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2017
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-83942-4
    Medium: Buch
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    Máthé | Physical Properties of Low-Dimensional Systems | Buch | Sack Fachmedien

    Máthé Physical Properties of Low-Dimensional Systems

    A Theoretical Study on Quantum Dots, Nanowires and Graphene
    Erscheinungsjahr 2025
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-031-91601-4
    Medium: Buch
    171,19 € (inkl. MwSt.)
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    Morita / Wiesendanger / Giessibl | Noncontact Atomic Force Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Morita / Wiesendanger / Giessibl Noncontact Atomic Force Microscopy

    Volume 2
    2009
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-26070-4
    Medium: Buch
    235,39 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan / Hosaka / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods I | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Hosaka / Fuchs Applied Scanning Probe Methods I

    Softcover version of original hardcover Auflage 2004
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-05602-4
    Medium: Buch
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    Oepen / Hopster | Magnetic Microscopy of Nanostructures | Buch | Sack Fachmedien

    Oepen / Hopster Magnetic Microscopy of Nanostructures

    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2005
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-07286-4
    Medium: Buch
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    Morita | Roadmap of Scanning Probe Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Morita Roadmap of Scanning Probe Microscopy

    2007
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-34314-1
    Medium: Buch
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods XI | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods XI

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    2009
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-85036-6
    Medium: Buch
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    Morita / Wiesendanger / Giessibl | Noncontact Atomic Force Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Morita / Wiesendanger / Giessibl Noncontact Atomic Force Microscopy

    Volume 3
    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2015
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-35876-5
    Medium: Buch
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    Celano | Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics | Buch | Sack Fachmedien

    Celano Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics

    1. Auflage 2019
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-030-15611-4
    Medium: Buch
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    Bhushan / Hosaka / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods I | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Hosaka / Fuchs Applied Scanning Probe Methods I

    2004
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-00527-8
    Medium: Buch
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods XII | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods XII

    Characterization
    2009
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-85038-0
    Medium: Buch
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    Voigtländer | Atomic Force Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Voigtländer Atomic Force Microscopy

    2. Auflage 2019
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-030-13653-6
    Medium: Buch
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    Gölzhäuser / Hlawacek | Helium Ion Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Gölzhäuser / Hlawacek Helium Ion Microscopy

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2016
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-82473-4
    Medium: Buch
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    Hopster / Oepen | Magnetic Microscopy of Nanostructures | Buch | Sack Fachmedien

    Hopster / Oepen Magnetic Microscopy of Nanostructures

    1. Auflage 2004
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-40186-5
    Medium: Buch
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    Michler | Single Semiconductor Quantum Dots | Buch | Sack Fachmedien

    Michler Single Semiconductor Quantum Dots

    2009
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-87445-4
    Medium: Buch
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    Landman / Heiz | Nanocatalysis | Buch | Sack Fachmedien

    Landman / Heiz Nanocatalysis

    2007
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-32645-8
    Medium: Buch
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    Morita / Meyer / Wiesendanger | Noncontact Atomic Force Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Morita / Meyer / Wiesendanger Noncontact Atomic Force Microscopy

    2002
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-43117-6
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    Schmidt | Lateral Alignment of Epitaxial Quantum Dots | Buch | Sack Fachmedien

    Schmidt Lateral Alignment of Epitaxial Quantum Dots

    2007
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-46935-3
    Medium: Buch
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    Bhushan / Tomitori / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods IX | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Tomitori / Fuchs Applied Scanning Probe Methods IX

    Characterization
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09341-8
    Medium: Buch
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    Marinello / Savio / Passeri | Acoustic Scanning Probe Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Marinello / Savio / Passeri Acoustic Scanning Probe Microscopy

    2013
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-43079-4
    Medium: Buch
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    Sidorenko | Fundamentals of Superconducting Nanoelectronics | Buch | Sack Fachmedien

    Sidorenko Fundamentals of Superconducting Nanoelectronics

    2011
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-27001-7
    Medium: Buch
    192,59 € (inkl. MwSt.)
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods II | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods II

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2006
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-06569-9
    Medium: Buch
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    Morita / Wiesendanger / Giessibl | Noncontact Atomic Force Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Morita / Wiesendanger / Giessibl Noncontact Atomic Force Microscopy

    Volume 2
    2009
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-01494-9
    Medium: Buch
    235,39 € (inkl. MwSt.)
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    Bimberg | Semiconductor Nanostructures | Buch | Sack Fachmedien

    Bimberg Semiconductor Nanostructures

    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09673-0
    Medium: Buch
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    Bhushan / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs Applied Scanning Probe Methods

    Volumes I - XIII
    1. Auflage 2011
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-88823-9
    Medium: Buch
    534,99 € (inkl. MwSt.)
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    Gölzhäuser / Hlawacek | Helium Ion Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Gölzhäuser / Hlawacek Helium Ion Microscopy

    1. Auflage 2016
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-41988-6
    Medium: Buch
    246,09 € (inkl. MwSt.)
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods II | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods II

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    2006
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-26242-8
    Medium: Buch
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods XII | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods XII

    Characterization
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2009
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09870-3
    Medium: Buch
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    Michler | Single Semiconductor Quantum Dots | Buch | Sack Fachmedien

    Michler Single Semiconductor Quantum Dots

    Softcover Nachdruck of hardcover 1. Auflage 2009
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09955-7
    Medium: Buch
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    Bhushan / Tomitori / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods VIII | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Tomitori / Fuchs Applied Scanning Probe Methods VIII

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    2008
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-74079-7
    Medium: Buch
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    Bhushan / Tomitori / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods IX | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Tomitori / Fuchs Applied Scanning Probe Methods IX

    Characterization
    2008
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-74082-7
    Medium: Buch
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    Wiesendanger | Scanning Probe Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Wiesendanger Scanning Probe Microscopy

    Analytical Methods
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 1998
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-08360-0
    Medium: Buch
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    Ando | High-Speed Atomic Force Microscopy in Biology | Buch | Sack Fachmedien

    Ando High-Speed Atomic Force Microscopy in Biology

    Directly Watching Dynamics of Biomolecules in Action
    1. Auflage 2022
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-662-64783-7
    Medium: Buch
    171,19 € (inkl. MwSt.)
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    Guimarães | Principles of Nanomagnetism | Buch | Sack Fachmedien

    Guimarães Principles of Nanomagnetism

    Softcover Nachdruck of the original 2. Auflage 2017
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-86618-5
    Medium: Buch
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods IV | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods IV

    Industrial Applications
    Softcover version of original hardcover Auflage 2006
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-06597-2
    Medium: Buch
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    Voigtländer | Atomic Force Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Voigtländer Atomic Force Microscopy

    2. Auflage 2019
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-030-13656-7
    Medium: Buch
    171,19 € (inkl. MwSt.)
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    Shchukin / Bimberg / Ledentsov | Epitaxy of Nanostructures | Buch | Sack Fachmedien

    Shchukin / Bimberg / Ledentsov Epitaxy of Nanostructures

    2004
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-67817-5
    Medium: Buch
    213,99 € (inkl. MwSt.)
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    Kawata / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods VI | Buch | Sack Fachmedien

    Kawata / Bhushan Applied Scanning Probe Methods VI

    Characterization
    2007
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-37318-6
    Medium: Buch
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    Marinello / Savio / Passeri | Acoustic Scanning Probe Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Marinello / Savio / Passeri Acoustic Scanning Probe Microscopy

    2013
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-27493-0
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods III | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods III

    Characterization
    2006
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-26909-0
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Gruverman / Alexe | Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials | Buch | Sack Fachmedien

    Gruverman / Alexe Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials

    Scanning Probe Microscopy Approach
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2004
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-05844-8
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan / Kawata / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods V | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Kawata / Fuchs Applied Scanning Probe Methods V

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    2007
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-37315-5
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Sidorenko | Fundamentals of Superconducting Nanoelectronics | Buch | Sack Fachmedien

    Sidorenko Fundamentals of Superconducting Nanoelectronics

    2011
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-20157-8
    Medium: Buch
    192,59 € (inkl. MwSt.)
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    Kawata / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods VI | Buch | Sack Fachmedien

    Kawata / Bhushan Applied Scanning Probe Methods VI

    Characterization
    Softcover version of original hardcover Auflage 2007
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-07212-3
    Medium: Buch
    117,69 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
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    Bhushan / Kawata / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods V | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Kawata / Fuchs Applied Scanning Probe Methods V

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    Softcover version of original hardcover Auflage 2007
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-07211-6
    Medium: Buch
    117,69 € (inkl. MwSt.)
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods III | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods III

    Characterization
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2006
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-06596-5
    Medium: Buch
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    Celano | Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics | Buch | Sack Fachmedien

    Celano Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics

    1. Auflage 2019
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-030-15614-5
    Medium: Buch
    181,89 € (inkl. MwSt.)
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    Gruverman / Alexe | Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials | Buch | Sack Fachmedien

    Gruverman / Alexe Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials

    Scanning Probe Microscopy Approach
    2004
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-20662-0
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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