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Naturwissenschaften
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Gruverman / Alexe Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials
Scanning Probe Microscopy Approach1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2004Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-05844-8Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Gösele / Alexe Wafer Bonding
Applications and Technology2004Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-21049-8Medium: Buch374,49 € (inkl. MwSt.)
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Gruverman / Alexe Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials
Scanning Probe Microscopy Approach2004Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-20662-0Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Gösele / Alexe Wafer Bonding
Applications and Technology1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2004Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-05915-5Medium: Buch374,49 € (inkl. MwSt.)
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