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Sadewasser / Glatzel Kelvin Probe Force Microscopy
Measuring and Compensating Electrostatic Forces1. Auflage 2011Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-22566-6Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Sadewasser / Glatzel Kelvin Probe Force Microscopy
From Single Charge Detection to Device Characterization1. Auflage 2018Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-319-75687-5Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark223,63 € (inkl. MwSt.)
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Glatzel / Sadewasser Kelvin Probe Force Microscopy
From Single Charge Detection to Device CharacterizationSoftcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2018Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-030-09298-6Medium: Buch235,39 € (inkl. MwSt.)
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Glatzel / Sadewasser Kelvin Probe Force Microscopy
Measuring and Compensating Electrostatic Forces2012Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-22565-9Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Glatzel / Sadewasser Kelvin Probe Force Microscopy
Measuring and Compensating Electrostatic Forces2012Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-27113-7Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Glatzel / Sadewasser Kelvin Probe Force Microscopy
From Single Charge Detection to Device Characterization1. Auflage 2018Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-319-75686-8Medium: Buch235,39 € (inkl. MwSt.)
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