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Huang / Cheng Design, Automation, and Test for Low-Power and Reliable Flexible Electronics
Erscheinungsjahr 2015Verlag: Now PublishersISBN: 978-1-60198-840-9Medium: Buch79,00 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Wang / Wu / Wen VLSI Test Principles and Architectures
Design for TestabilityErscheinungsjahr 2006Verlag: Elsevier ScienceISBN: 978-0-12-370597-6Medium: Buch83,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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