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LuValle / LeFevre / Kannan Design and Analysis of Accelerated Tests for Mission Critical Reliability
Erscheinungsjahr 2004Verlag: Taylor & FrancisISBN: 978-0-203-49203-1Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)73,49 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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LuValle / LeFevre / Kannan Design and Analysis of Accelerated Tests for Mission Critical Reliability
Erscheinungsjahr 2004Verlag: Taylor & FrancisISBN: 978-1-135-43618-6Medium: eBookFormat: EPUB
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)73,49 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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LuValle / LeFevre / Kannan Design and Analysis of Accelerated Tests for Mission Critical Reliability
1. Auflage 2004Verlag: Chapman and Hall/CRCISBN: 978-1-58488-471-2Medium: Buch186,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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