Ergebnisse filtern
-
- 2
-
- 1
- 1
-
- 2
- 2
- 1
- 1
- 1
-
- 1
- 1
-
- 2
-
- 2
-
- 1
- 1
-
- 2
-
Lin / Ryan / Wu Materials, Processes, Integration and Reliability in Advanced Interconnects for Micro- And Nanoelectronics
Volume 990: Symposium Held April 10 12, 20Erscheinungsjahr 2012Verlag: Cambridge University PressISBN: 978-1-107-40871-5Medium: Buch40,00 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Lin / Ryan / Wu Materials, Processes, Integration and Reliability in Advanced Interconnects for Micro- and Nanoelectronics: Volume 990
Symposium Held April 10-12, 2007, San Francisco, California, U.S.A.Erscheinungsjahr 2007Verlag: Materials Research SocietyISBN: 978-1-55899-950-3Medium: Buch32,50 € (inkl. MwSt.)
Kurzfristig nicht lieferbar
Ist Ihr gesuchter Titel nicht Teil der Ergebnisse? Dann nutzen Sie unser Kontaktformular
Bitte ändern Sie das Passwort
