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Mahapatra Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors
Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling1. Auflage 2015Verlag: Springer IndiaISBN: 978-81-322-2507-2Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Mahapatra Recent Advances in PMOS Negative Bias Temperature Instability
Characterization and Modeling of Device Architecture, Material and Process Impact1. Auflage 2022Verlag: Springer Nature SingaporeISBN: 978-981-16-6122-8Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Mahapatra Recent Advances in PMOS Negative Bias Temperature Instability
Characterization and Modeling of Device Architecture, Material and Process Impact1. Auflage 2021Verlag: Springer SingaporeISBN: 978-981-16-6120-4Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
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Mahapatra Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors
Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling1. Auflage 2016Verlag: Springer IndiaISBN: 978-81-322-2508-9Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
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Mahapatra Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors
Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC ModelingSoftcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2016Verlag: Springer IndiaISBN: 978-81-322-3424-1Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Mahapatra Recent Advances in PMOS Negative Bias Temperature Instability
Characterization and Modeling of Device Architecture, Material and Process Impact1. Auflage 2022Verlag: Springer Nature SingaporeISBN: 978-981-16-6119-8Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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