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Illian / Penttinen / Stoyan Statistical Analysis and Modelling of Spatial Point Patterns
1. Auflage 2008Verlag: WileyISBN: 978-0-470-01491-2Medium: Buch132,00 € (inkl. MwSt.)
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Illian / Penttinen / Stoyan Statistical Analysis and Modelling of Spatial Point Patterns
1. Auflage 2008Verlag: John Wiley & SonsISBN: 978-0-470-72515-3Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)119,99 € (inkl. MwSt.)
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