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Singh / Mohanty / Pradhan Robust SRAM Designs and Analysis
1. Auflage 2012Verlag: Springer USISBN: 978-1-4614-0818-5Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
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Nicolaidis / Pradhan / Zorian On-Line Testing for VLSI
Nachdrucked from THE JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING, 12:1-2. Softcover version of original hardcover Auflage 1998Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-5033-8Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Nicolaidis / Zorian / Pradhan On-Line Testing for VLSI
Erscheinungsjahr 2013Verlag: Springer USISBN: 978-1-4757-6069-9Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
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de Gyvez / Pradhan Integrated Circuit Manufacturability
The Art of Process and Design Integration1. Auflage 1998Verlag: WileyISBN: 978-0-7803-3447-2Medium: Buch254,50 € (inkl. MwSt.)
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Nicolaidis / Pradhan / Zorian On-Line Testing for VLSI
<em>Nachdrucked from THE JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING, 12:1-2</em> 1998Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-8132-7Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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