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Sayil Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation
1. Auflage 2016Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-319-30606-3Medium: Buch53,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Sayil Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques
1. Auflage 2018Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-319-69673-7Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Sayil Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2016Verlag: SpringerISBN: 978-3-319-80848-2Medium: Buch53,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Sayil Noise Contamination in Nanoscale VLSI Circuits
Erscheinungsjahr 2022Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-031-12751-9Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark53,49 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Sayil Noise Contamination in Nanoscale VLSI Circuits
1. Auflage 2022Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-031-12750-2Medium: Buch53,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Sayil Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation
1. Auflage 2016Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-319-30607-0Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark53,49 € (inkl. MwSt.)
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Sayil Noise Contamination in Nanoscale VLSI Circuits
1. Auflage 2022Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-031-12753-3Medium: Buch53,49 € (inkl. MwSt.)
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Sayil Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2018Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-319-88819-4Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Sayil Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques
1. Auflage 2018Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-319-69672-0Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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