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Transistoren
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Mahapatra Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors
Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC ModelingSoftcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2016Verlag: Springer IndiaISBN: 978-81-322-3424-1Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Mahapatra Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors
Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling1. Auflage 2015Verlag: Springer IndiaISBN: 978-81-322-2507-2Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Franco / Groeseneken / Kaczer Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications
2014Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-94-007-7662-3Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Franco / Groeseneken / Kaczer Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2014Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-94-024-0205-6Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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