Ergebnisse filtern
-
- 72
-
- 5
- 2
- 5
- 8
- 52
-
- 72
-
- 72
-
- 72
-
- 72
Elektronik | Nachrichtentechnik
-
Gizopoulos Advances in Electronic Testing
Challenges and Methodologies2006Verlag: Springer USISBN: 978-0-387-29408-7Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Gizopoulos Advances in Electronic Testing
Challenges and Methodologies2006Verlag: Springer USISBN: 978-1-4899-8773-0Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Wunderlich Models in Hardware Testing
Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault2010. Auflage 2009Verlag: SpringerISBN: 978-90-481-3281-2Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Wunderlich Models in Hardware Testing
Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault2010Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-94-007-3093-9Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Agrawal / Bushnell Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits
2002Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-7991-1Medium: Buch139,09 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Agrawal / Bushnell Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits
2002Verlag: Springer USISBN: 978-1-4757-8142-7Medium: Buch139,09 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Nicolaidis Soft Errors in Modern Electronic Systems
2011. Auflage 2010Verlag: Springer UsISBN: 978-1-4419-6992-7Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Nicolaidis Soft Errors in Modern Electronic Systems
2011Verlag: Springer USISBN: 978-1-4614-2689-9Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Thadikaran / Chakravarty Introduction to IDDQ Testing
1997Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-9945-2Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Adams High Performance Memory Testing
Design Principles, Fault Modeling and Self-Test2003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-7255-0Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Adams High Performance Memory Testing
Design Principles, Fault Modeling and Self-Test2003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4757-8474-9Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Nicolaidis / Pradhan / Zorian On-Line Testing for VLSI
<em>Nachdrucked from THE JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING, 12:1-2</em> 1998Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-8132-7Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Nicolaidis / Pradhan / Zorian On-Line Testing for VLSI
Nachdrucked from THE JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING, 12:1-2. Softcover version of original hardcover Auflage 1998Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-5033-8Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Hamdioui Testing Static Random Access Memories
Defects, Fault Models and Test Patterns1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2004Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-5430-5Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Hamdioui Testing Static Random Access Memories
Defects, Fault Models and Test Patterns2004Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-7752-4Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Al-Hashimi / Nicolici Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard2003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-7235-2Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Al-Hashimi / Nicolici Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-5315-5Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Krstic Delay Fault Testing for VLSI Circuits
1998Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-8295-9Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Pineda de Gyvez / Sachdev Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
2. Auflage Softcover version of original hardcover Auflage 2007Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-4285-2Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Pineda de Gyvez / Sachdev Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
2. Auflage 2007Verlag: Springer USISBN: 978-0-387-46546-3Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Stoffel / Kunz Reasoning in Boolean Networks
Logic Synthesis and Verification Using Testing Techniques1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 1997Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-5176-2Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Kunz / Stoffel Reasoning in Boolean Networks
Logic Synthesis and Verification Using Testing Techniques1997. Auflage 1997Verlag: Springer UsISBN: 978-0-7923-9921-6Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Chakrabarty SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2002Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-5307-0Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Chakrabarty SOC (System-on-a-Chip) Testing for Plug and Play Test Automation
2002Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-7205-5Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Zilic / Radecka Verification by Error Modeling
Using Testing Techniques in Hardware Verification2003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-5402-2Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
Ist Ihr gesuchter Titel nicht Teil der Ergebnisse? Dann nutzen Sie unser Kontaktformular
Bitte ändern Sie das Passwort
