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Energietechnik | Elektrotechnik
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Agrawal / Bushnell Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits
2002Verlag: Springer USISBN: 978-1-4757-8142-7Medium: Buch139,09 € (inkl. MwSt.)
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Adams High Performance Memory Testing
Design Principles, Fault Modeling and Self-Test2003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4757-8474-9Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Thadikaran / Chakravarty Introduction to IDDQ Testing
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2002Verlag: Springer USISBN: 978-1-4613-7812-9Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Krstic Delay Fault Testing for VLSI Circuits
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 1998Verlag: Springer USISBN: 978-1-4613-7561-6Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Stroud A Designer's Guide to Built-In Self-Test
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2002Verlag: Springer USISBN: 978-1-4757-7626-3Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
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Simpson / Sheppard Research Perspectives and Case Studies in System Test and Diagnosis
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 1998Verlag: Springer USISBN: 978-1-4613-7535-7Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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da Silva / Waayers / McLaurin The Core Test Wrapper Handbook
Rationale and Application of IEEE Std. 1500(TM)2006Verlag: Springer USISBN: 978-1-4899-8769-3Medium: Buch117,69 € (inkl. MwSt.)
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da Silva / McLaurin / Waayers The Core Test Wrapper Handbook
Rationale and Application of IEEE Std. 1500(tm)2006. Auflage 2006Verlag: Springer UsISBN: 978-0-387-30751-0Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Maston / Villar / Taylor Elements of STIL
Principles and Applications of IEEE Std. 1450Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4613-5089-7Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Formal Equivalence Checking and Design Debugging
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 1998Verlag: SpringerISBN: 978-1-4613-7606-4Medium: Buch192,59 € (inkl. MwSt.)
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Beenker / Thijssen / Bennetts Testability Concepts for Digital ICs
The Macro Test Approach1995Verlag: Springer USISBN: 978-1-4613-6004-9Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Zorian Multi-Chip Module Test Strategies
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 1997Verlag: Springer USISBN: 978-1-4613-7798-6Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Chandra / Iyengar Test Resource Partitioning for System-on-a-Chip
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2002Verlag: Springer USISBN: 978-1-4613-5400-0Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Reis / Kastensmidt Fault-Tolerance Techniques for SRAM-Based FPGAs
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2006Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-4052-0Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Nadeau-Dostie Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement
2000Verlag: Springer USISBN: 978-1-4757-8291-2Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Kastensmidt / Reis Fault-Tolerance Techniques for Sram-Based FPGAs
2006. Auflage 2006Verlag: Springer UsISBN: 978-0-387-31068-8Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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