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3  Treffer  für „Frontiers in Electronic Testing“
    Hamdioui | Testing Static Random Access Memories | Buch | Sack Fachmedien

    Hamdioui Testing Static Random Access Memories

    Defects, Fault Models and Test Patterns
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2004
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-1-4419-5430-5
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Hamdioui | Testing Static Random Access Memories | Buch | Sack Fachmedien

    Hamdioui Testing Static Random Access Memories

    Defects, Fault Models and Test Patterns
    2004
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-1-4020-7752-4
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Maston / Villar / Taylor | Elements of STIL | Buch | Sack Fachmedien

    Maston / Villar / Taylor Elements of STIL

    Principles and Applications of IEEE Std. 1450
    2003
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-1-4020-7637-4
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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