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    Sidorenko | Fundamentals of Superconducting Nanoelectronics | Buch | Sack Fachmedien

    Sidorenko Fundamentals of Superconducting Nanoelectronics

    2011
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-20157-8
    Medium: Buch
    192,59 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods IV | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs Applied Scanning Probe Methods IV

    Industrial Applications
    1. Auflage 2006
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-26912-0
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Narendar / Gopalakrishnan | Wave Propagation in Nanostructures | Buch | Sack Fachmedien

    Narendar / Gopalakrishnan Wave Propagation in Nanostructures

    Nonlocal Continuum Mechanics Formulations
    2013
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-01031-1
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Morita / Wiesendanger / Giessibl | Noncontact Atomic Force Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Morita / Wiesendanger / Giessibl Noncontact Atomic Force Microscopy

    Volume 3
    2015
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-15587-6
    Medium: Buch
    213,99 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan / Tomitori / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods VIII | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Tomitori / Fuchs Applied Scanning Probe Methods VIII

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09340-1
    Medium: Buch
    117,69 € (inkl. MwSt.)
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    Schmidt | Lateral Alignment of Epitaxial Quantum Dots | Buch | Sack Fachmedien

    Schmidt Lateral Alignment of Epitaxial Quantum Dots

    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2007
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-07991-7
    Medium: Buch
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods XI | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods XI

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2009
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09869-7
    Medium: Buch
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    Shchukin / Bimberg / Ledentsov | Epitaxy of Nanostructures | Buch | Sack Fachmedien

    Shchukin / Bimberg / Ledentsov Epitaxy of Nanostructures

    Softcover version of original hardcover Auflage 2004
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-08735-6
    Medium: Buch
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    Gruverman / Alexe | Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials | Buch | Sack Fachmedien

    Gruverman / Alexe Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials

    Scanning Probe Microscopy Approach
    2004
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-20662-0
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Saurov / Bulyarskiy | Doping of Carbon Nanotubes | Buch | Sack Fachmedien

    Saurov / Bulyarskiy Doping of Carbon Nanotubes

    1. Auflage 2017
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-55882-0
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods III | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods III

    Characterization
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2006
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-06596-5
    Medium: Buch
    117,69 € (inkl. MwSt.)
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    Morita | Roadmap of Scanning Probe Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Morita Roadmap of Scanning Probe Microscopy

    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2007
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-07069-3
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan / Kawata / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods V | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Kawata / Fuchs Applied Scanning Probe Methods V

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    Softcover version of original hardcover Auflage 2007
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-07211-6
    Medium: Buch
    117,69 € (inkl. MwSt.)
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    Celano | Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics | Buch | Sack Fachmedien

    Celano Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics

    1. Auflage 2019
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-030-15614-5
    Medium: Buch
    181,89 € (inkl. MwSt.)
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    Guimarães | Principles of Nanomagnetism | Buch | Sack Fachmedien

    Guimarães Principles of Nanomagnetism

    2. Auflage 2017
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-59408-8
    Medium: Buch
    181,89 € (inkl. MwSt.)
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    Wiesendanger | Scanning Probe Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Wiesendanger Scanning Probe Microscopy

    Analytical Methods
    1998
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-63815-5
    Medium: Buch
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    Lorke / Winterer / Schmechel | Nanoparticles from the Gasphase | Buch | Sack Fachmedien

    Lorke / Winterer / Schmechel Nanoparticles from the Gasphase

    Formation, Structure, Properties
    1. Auflage 2012
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-28545-5
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Lorke / Schulz / Winterer | Nanoparticles from the Gasphase | Buch | Sack Fachmedien

    Lorke / Schulz / Winterer Nanoparticles from the Gasphase

    Formation, Structure, Properties
    2012
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-42729-9
    Medium: Buch
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    Güçlü / Hawrylak / Potasz | Graphene Quantum Dots | Buch | Sack Fachmedien

    Güçlü / Hawrylak / Potasz Graphene Quantum Dots

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2014
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-662-52188-5
    Medium: Buch
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    Krahne / Manna / Deka | Physical Properties of Nanorods | Buch | Sack Fachmedien

    Krahne / Manna / Deka Physical Properties of Nanorods

    2013
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-36429-7
    Medium: Buch
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    Li | Nanomaterials for Sustainable Energy | Buch | Sack Fachmedien

    Li Nanomaterials for Sustainable Energy

    1. Auflage 2016
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-32021-2
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods XI | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods XI

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    2009
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-85036-6
    Medium: Buch
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods XII | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods XII

    Characterization
    2009
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-85038-0
    Medium: Buch
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    Macagnano / Kny / Zampetti | Electrospinning for High Performance Sensors | Buch | Sack Fachmedien

    Macagnano / Kny / Zampetti Electrospinning for High Performance Sensors

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2015
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-38178-7
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Morita | Roadmap of Scanning Probe Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Morita Roadmap of Scanning Probe Microscopy

    2007
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-34314-1
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    S. Dresselhaus / Aoki | Physics of Graphene | Buch | Sack Fachmedien

    S. Dresselhaus / Aoki Physics of Graphene

    2014
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-02632-9
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Morita / Wiesendanger / Giessibl | Noncontact Atomic Force Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Morita / Wiesendanger / Giessibl Noncontact Atomic Force Microscopy

    Volume 3
    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2015
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-35876-5
    Medium: Buch
    213,99 € (inkl. MwSt.)
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    Narendar / Gopalakrishnan | Wave Propagation in Nanostructures | Buch | Sack Fachmedien

    Narendar / Gopalakrishnan Wave Propagation in Nanostructures

    Nonlocal Continuum Mechanics Formulations
    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2013
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-37706-3
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Voigtländer | Atomic Force Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Voigtländer Atomic Force Microscopy

    2. Auflage 2019
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-030-13653-6
    Medium: Buch
    171,19 € (inkl. MwSt.)
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    Celano | Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics | Buch | Sack Fachmedien

    Celano Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics

    1. Auflage 2019
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-030-15611-4
    Medium: Buch
    181,89 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
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    Bhushan / Hosaka / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods I | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Hosaka / Fuchs Applied Scanning Probe Methods I

    2004
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-00527-8
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan / Hosaka / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods I | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Hosaka / Fuchs Applied Scanning Probe Methods I

    Softcover version of original hardcover Auflage 2004
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-05602-4
    Medium: Buch
    117,69 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan / Tomitori / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods VIII | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Tomitori / Fuchs Applied Scanning Probe Methods VIII

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    2008
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-74079-7
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs Applied Scanning Probe Methods

    Volumes I - XIII
    1. Auflage 2011
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-88823-9
    Medium: Buch
    534,99 € (inkl. MwSt.)
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    Landman / Heiz | Nanocatalysis | Buch | Sack Fachmedien

    Landman / Heiz Nanocatalysis

    1. Auflage 2007. 2. printing 2007
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-74551-8
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan / Tomitori / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods IX | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Tomitori / Fuchs Applied Scanning Probe Methods IX

    Characterization
    2008
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-74082-7
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods XII | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods XII

    Characterization
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2009
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09870-3
    Medium: Buch
    117,69 € (inkl. MwSt.)
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    S. Dresselhaus / Aoki | Physics of Graphene | Buch | Sack Fachmedien

    S. Dresselhaus / Aoki Physics of Graphene

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2014
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-35252-7
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
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    Masuhara / Sasaki / Nakanishi | Single Organic Nanoparticles | Buch | Sack Fachmedien

    Masuhara / Sasaki / Nakanishi Single Organic Nanoparticles

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2003
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-62429-2
    Medium: Buch
    53,49 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
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    Hu / Jiang / Chen | Emerging Nanotechnologies in Nanocellulose | Buch | Sack Fachmedien

    Hu / Jiang / Chen Emerging Nanotechnologies in Nanocellulose

    1. Auflage 2023
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-031-14042-6
    Medium: Buch
    181,89 € (inkl. MwSt.)
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    Wiesendanger | Scanning Probe Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Wiesendanger Scanning Probe Microscopy

    Analytical Methods
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 1998
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-08360-0
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods II | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods II

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    2006
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-26242-8
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Marinello / Savio / Passeri | Acoustic Scanning Probe Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Marinello / Savio / Passeri Acoustic Scanning Probe Microscopy

    2013
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-43079-4
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Morita / Meyer / Wiesendanger | Noncontact Atomic Force Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Morita / Meyer / Wiesendanger Noncontact Atomic Force Microscopy

    2002
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-43117-6
    Medium: Buch
    213,99 € (inkl. MwSt.)
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    Le Lay / Vogt | Silicene | Buch | Sack Fachmedien

    Le Lay / Vogt Silicene

    Prediction, Synthesis, Application
    1. Auflage 2018
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-99962-3
    Medium: Buch
    149,79 € (inkl. MwSt.)
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    Schmidt | Lateral Alignment of Epitaxial Quantum Dots | Buch | Sack Fachmedien

    Schmidt Lateral Alignment of Epitaxial Quantum Dots

    2007
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-46935-3
    Medium: Buch
    213,99 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan / Tomitori / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods IX | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Tomitori / Fuchs Applied Scanning Probe Methods IX

    Characterization
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09341-8
    Medium: Buch
    117,69 € (inkl. MwSt.)
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    Li | Nanomaterials for Sustainable Energy | Buch | Sack Fachmedien

    Li Nanomaterials for Sustainable Energy

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2016
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-81178-9
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Sidorenko | Fundamentals of Superconducting Nanoelectronics | Buch | Sack Fachmedien

    Sidorenko Fundamentals of Superconducting Nanoelectronics

    2011
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-27001-7
    Medium: Buch
    192,59 € (inkl. MwSt.)
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods II | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods II

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2006
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-06569-9
    Medium: Buch
    117,69 € (inkl. MwSt.)
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