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Maschinenbau | Werkstoffkunde

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Goel, Sandeep K.

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Goel / Chakrabarty Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits

1. Auflage 2017

Verlag: CRC Press

ISBN: 978-1-138-07577-1

Medium: Buch

119,70 € (inkl. MwSt.)
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