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Maschinenbau | Werkstoffkunde
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Gizopoulos Advances in Electronic Testing
Challenges and Methodologies2006Verlag: Springer USISBN: 978-0-387-29408-7Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Gizopoulos Advances in Electronic Testing
Challenges and Methodologies2006Verlag: Springer USISBN: 978-1-4899-8773-0Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Hamdioui Testing Static Random Access Memories
Defects, Fault Models and Test Patterns1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2004Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-5430-5Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Hamdioui Testing Static Random Access Memories
Defects, Fault Models and Test Patterns2004Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-7752-4Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Maston / Villar / Taylor Elements of STIL
Principles and Applications of IEEE Std. 14502003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-7637-4Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Tehranipoor Emerging Nanotechnologies
Test, Defect Tolerance, and Reliability2008Verlag: SpringerISBN: 978-0-387-74746-0Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Tehranipoor Emerging Nanotechnologies
Test, Defect Tolerance, and Reliability1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-4513-6Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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