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Angewandte Optik
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Oliveira / Lima / Thirstrup Surface Plasmon Resonance Sensors
A Materials Guide to Design, Characterization, Optimization, and Usage2. Auflage 2019Verlag: SpringerISBN: 978-3-030-17485-9Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Oliveira / Neff / Lima Surface Plasmon Resonance Sensors
A Materials Guide to Design, Characterization, Optimization, and Usage2. Auflage 2019Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-030-17488-0Medium: Buch117,69 € (inkl. MwSt.)
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Ferraro / Zalevsky / Wax Coherent Light Microscopy
Imaging and Quantitative Phase Analysis2011Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-26710-9Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Ferraro / Zalevsky / Wax Coherent Light Microscopy
Imaging and Quantitative Phase Analysis2011Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-15812-4Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Toporski / Hollricher / Dieing Confocal Raman Microscopy
2. Auflage 2018Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-319-75378-2Medium: Buch267,49 € (inkl. MwSt.)
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Toporski / Hollricher / Dieing Confocal Raman Microscopy
2. Auflage 2018Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-030-09217-7Medium: Buch267,49 € (inkl. MwSt.)
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Mönch Electronic Properties of Semiconductor Interfaces
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2004Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-05778-6Medium: Buch235,39 € (inkl. MwSt.)
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Mönch Electronic Properties of Semiconductor Interfaces
2004Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-20215-8Medium: Buch235,39 € (inkl. MwSt.)
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