Finch / Buxbaum | Focused Ion Beam Instrumentation: Techniques and Applications | Buch | 978-1-119-95325-8 | www.sack.de

Buch, Englisch, 256 Seiten

Reihe: RMS - Royal Microscopical Soci

Finch / Buxbaum

Focused Ion Beam Instrumentation: Techniques and Applications


Erscheinungsjahr 2018
ISBN: 978-1-119-95325-8
Verlag: JOHN WILEY & SONS INC

Buch, Englisch, 256 Seiten

Reihe: RMS - Royal Microscopical Soci

ISBN: 978-1-119-95325-8
Verlag: JOHN WILEY & SONS INC

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Autoren/Hrsg.

Finch, Dudley
Buxbaum, Alexander
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