Orloff | Handbook of Charged Particle Optics, Second Edition | E-Book | www.sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, 666 Seiten

Orloff Handbook of Charged Particle Optics, Second Edition


2. Auflage 2008
ISBN: 978-1-4200-4555-0
Verlag: Taylor & Francis
Format: PDF
 Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)

E-Book, Englisch, 666 Seiten

ISBN: 978-1-4200-4555-0
Verlag: Taylor & Francis
Format: PDF
 Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)

With the growing proliferation of nanotechnologies, powerful imaging technologies are being developed to operate at the sub-nanometer scale. The newest edition of a bestseller, the Handbook of Charged Particle Optics, Second Edition provides essential background information for the design and operation of high resolution focused probe instruments.
The book’s unique approach covers both the theoretical and practical knowledge of high resolution probe forming instruments. The second edition features new chapters on aberration correction and applications of gas phase field ionization sources. With the inclusion of additional references to past and present work in the field, this second edition offers perfectly calibrated coverage of the field’s cutting-edge technologies with added insight into how they work.
Written by the leading research scientists, the second edition of the Handbook of Charged Particle Optics is a complete guide to understanding, designing, and using high resolution probe instrumentation.

Orloff Handbook of Charged Particle Optics, Second Edition jetzt bestellen!

Zielgruppe

Optical engineers and physical/material scientists.

Autoren/Hrsg.

Orloff, Jon

Fachgebiete

Weitere Infos & Material

Review of ZrO/W Schottky Cathode
L. W. Swanson and G. A. Schwind

Liquid Metal Ion Sources
R. G. Forbes and (the late) G. L. R. Mair

Gas Field Ionization Sources
R. G. Forbes

Magnetic Lenses for Electron Microscopy
K. Tsuno

Electrostatic Lenses
B. Lencová

Aberrations
P. W. Hawkes

Space Charge and Statistical Coulomb Effects
P. Kruit and G. H. Jansen
Resolution
M. Sato

Scanning Electron Microscope
A. E. Vladár and M. T. Postek

Scanning Transmission Electron Microscope
A. V. Crewe (updated by P. D. Nellist)

Focused Ion Beams
M. Utlaut

Aberration Correction in Electron Microscopy
O. L. Krivanek, N. Dellby and M. F. Murffitt

Appendix: Computational Resources for Electron Microscopy
J. Orloff (with valuable information from P. W. Hawkes and B. Lencová)

Index

Ihre Fragen, Wünsche oder Anmerkungen
Vorname*
Nachname*
Ihre E-Mail-Adresse*
Kundennr.
Ihre Nachricht*
Lediglich mit * gekennzeichnete Felder sind Pflichtfelder.
Wenn Sie die im Kontaktformular eingegebenen Daten durch Klick auf den nachfolgenden Button übersenden, erklären Sie sich damit einverstanden, dass wir Ihr Angaben für die Beantwortung Ihrer Anfrage verwenden. Selbstverständlich werden Ihre Daten vertraulich behandelt und nicht an Dritte weitergegeben. Sie können der Verwendung Ihrer Daten jederzeit widersprechen. Das Datenhandling bei Sack Fachmedien erklären wir Ihnen in unserer Datenschutzerklärung.