Intermittent Failures in Integrated Circuits: Detection, Characterization and Fault Tolerance

1. Auflage 2015
ISBN: 978-1-4419-8314-5
Verlag: Springer

Buch, Englisch, 300 Seiten

This book presents a consolidated study of the entire class of intermittent failures by analyzing the root causes behind these errors, their efficient detection and characterization, and finally fault tolerant design techniques at various layers of abstraction (from transistor to architecture) to improve reliability of system operation in presence of intermittent errors.

Zielgruppe

Research

Autoren/Hrsg.

Sanyal, Alodeep

Kundu, Sandip

Polian, Ilia

Fachgebiete

• Technische Wissenschaften Elektronik | Nachrichtentechnik Elektronik Bauelemente, Schaltkreise
• Technische Wissenschaften Elektronik | Nachrichtentechnik Elektronik Überwachungstechnik
• Technische Wissenschaften Technik Allgemein Technische Zuverlässigkeit, Sicherheitstechnik
• Technische Wissenschaften Elektronik | Nachrichtentechnik Elektronik Halb- und Supraleitertechnologie
• Technische Wissenschaften Maschinenbau | Werkstoffkunde Produktionstechnik Zuverlässigkeitstechnik

Inhaltsverzeichnis

Fundamentals of VLSI Testing.- Circuit Marginality and Noise Sources.- Fault Modeling for Intermittent Errors.- Automatic Test Pattern Generation.- Design-for-Testability.- Test Economics and Cost-Benefit Analysis.- Layout Level Fault Tolerance.- Circuit Level Fault Tolerance.- Gate Level Fault Tolerance.- System Level Fault Tolerance.- Information Level Fault Tolerance.