Sanyal / Kundu / Polian | Intermittent Failures in Integrated Circuits: Detection, Characterization and Fault Tolerance | Buch | 978-1-4419-8314-5 | www.sack.de

Buch, Englisch, 300 Seiten

Sanyal / Kundu / Polian

Intermittent Failures in Integrated Circuits: Detection, Characterization and Fault Tolerance


2016
ISBN: 978-1-4419-8314-5
Verlag: Springer

Buch, Englisch, 300 Seiten

ISBN: 978-1-4419-8314-5
Verlag: Springer

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Autoren/Hrsg.

Sanyal, Alodeep
Kundu, Sandip
Polian, Ilia
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