Sun / Nishida / Thompson | Strain Effect in Semiconductors | Buch | 978-1-4899-8315-2 | sack.de

Buch, Englisch, 350 Seiten, Previously published in hardcover, Format (B × H): 155 mm x 235 mm, Gewicht: 552 g

Sun / Nishida / Thompson

Strain Effect in Semiconductors

Theory and Device Applications
2010
ISBN: 978-1-4899-8315-2
Verlag: Springer US

Theory and Device Applications

Buch, Englisch, 350 Seiten, Previously published in hardcover, Format (B × H): 155 mm x 235 mm, Gewicht: 552 g

ISBN: 978-1-4899-8315-2
Verlag: Springer US


Strain Effect in Semiconductors: Theory and Device Applications presents the fundamentals and applications of strain in semiconductors and semiconductor devices that is relevant for strain-enhanced advanced CMOS technology and strain-based piezoresistive MEMS transducers. Discusses relevant applications of strain while also focusing on the fundamental physics pertaining to bulk, planar, and scaled nano-devices. Hence, this book is relevant for current strained Si logic technology as well as for understanding the physics and scaling for future strained nano-scale devices.

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Zielgruppe


Professional/practitioner

Weitere Infos & Material


Overview: The Age of Strained Devices.- Band Structures of Strained Semiconductors.- Stress, Strain, Piezoresistivity, and Piezoelectricity.- Strain and Semiconductor Crystal Symmetry.- Band Structures of Strained Semiconductors.- Low-Dimensional Semiconductor Structures.- Transport Theory of Strained Semiconductors.- Semiconductor Transport.- Strain in Semiconductor Devices.- Strain in Electron Devices.- Piezoresistive Strain Sensors.- Strain Effects on Optoelectronic Devices.



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