E-Book, Deutsch, 202 Seiten, Format (B × H): 148 mm x 210 mm
Reihe: Beuth Praxis
Volk / DIN e.V. Rauheitsmessung
überarbeitete Ausgabe
ISBN: 978-3-410-27550-3
Verlag: DIN Media
Format: PDF
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)
Theorie und Praxis
E-Book, Deutsch, 202 Seiten, Format (B × H): 148 mm x 210 mm
Reihe: Beuth Praxis
ISBN: 978-3-410-27550-3
Verlag: DIN Media
Format: PDF
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)
Der Beuth-Praxis-Band "Rauheitsmessung" hat sich als praxisorientierte Einführung in die Oberflächenmesstechnik bewährt. Das jetzt in dritter Auflage vorliegende Werk wurde unter Berücksichtigung des aktuellen Stands der GPS-Normung überarbeitet. Der Autor erläutert in anschaulicher Form die Anforderungen an moderne Rauheitsmessgeräte, gibt Hinweise zum richtigen Einsatz in der Praxis und interpretiert die Messergebnisse der einschlägigen nationalen und internationalen Normen. Sachkundige, leicht verständlich geschriebene Kommentare machen den Zusammenhang zwischen den verschiedenen Normen zur Oberflächenbeschaffenheit deutlich. Gleichzeitig gibt der Autor einen ersten Ausblick auf die derzeit laufende Entwicklung von internationalen Normen, die für eine bessere Übersichtlichkeit sorgen sollen.
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1;Volltextsuche;1
2;Rauheitsmessung;1
2.1;Impressum / Copyright;5
2.2;Über den Autor;6
2.3;Vorwort;8
2.4;Inhalt;10
2.5;1 Einführung;14
2.6;2 Oberflächen;16
2.6.1;2.1 Funktion einer Oberfläche;18
2.6.2;2.2 Einfluss des Fertigungsverfahrens;18
2.6.3;2.3 Prüfmittel für die Oberflächenrauheit;20
2.6.4;2.4 Herstellung von Oberflächen;20
2.6.5;2.5 Die Oberfläche als komplexes Gebilde;22
2.6.6;2.6 Unterscheidung von Oberflächenunregelmäßigkeiten;24
2.7;3 Oberflächenkenngrößen;26
2.7.1;3.1 Bedeutung der Kenngrößen;28
2.7.1.1;3.1.1 Wichtige aktuelle Kenngrößen;29
2.7.1.2;3.1.2 Neue Kenngrößen;30
2.7.1.3;3.1.3 Weniger gebräuchliche Kenngrößen;31
2.7.2;3.2 Verwechslungsgefahren;32
2.7.3;3.3 Übersicht über die Kenngrößen;32
2.7.4;3.4 Rauheitskenngrößen;35
2.7.4.1;3.4.1 Ra – Arithmetischer Mittenrauwert;35
2.7.4.2;3.4.2 Rq – Quadratischer Mittenrauwert;37
2.7.4.3;3.4.3 Rz – Gemittelte Rautiefe; Rmax – Maximale Rautiefe;38
2.7.4.4;3.4.4 R3z – Grundrautiefe;40
2.7.4.5;3.4.5 Rz(ISO) – Zehnpunktehöhe; Ry – Maximale Rautiefe (alt);41
2.7.4.6;3.4.6 Rp – Mittlere Glättungstiefe; Rv – Mittlere Riefentiefe;43
2.7.5;3.5 Welligkeitskenngrößen;45
2.7.5.1;3.5.1 Wt – Wellentiefe;45
2.7.5.2;3.5.2 WDSm – Dominante Wellenlänge;45
2.7.6;3.6 Oberflächenkenngrößen für das Gesamtprofil;50
2.7.6.1;3.6.1 Pt – Profiltiefe;50
2.7.7;3.7 Distanzkenngrößen (Horizontalkenngrößen);51
2.7.7.1;3.7.1 RPc – Normierte Spitzenzahl; D – Dichte;51
2.7.7.2;3.7.2 RSm – Mittlerer Rillenabstand;55
2.7.8;3.8 Zusammengesetzte Kenngrößen (Länge und Tiefe);56
2.7.8.1;3.8.1 Rmr(c), Pmr(c) – Materialanteil des Profils;56
2.7.8.2;3.8.2 Rk – Kernrautiefe; Rpk – Reduzierte Spitzenhöhe; Rvk – Reduzierte Riefentiefe; Mr1 – Kleinster Materialanteil; Mr2 – Größter Materialanteil;58
2.7.8.3;3.8.3 R?q – Quadratischer Mittelwert der Profilsteigung;63
2.7.8.4;3.8.4 L0 – Gestreckte Länge des Profils (nicht genormt);64
2.7.8.5;3.8.5 LR – Profillängenverhältnis;65
2.7.9;3.9 Motifkenngrößen;65
2.7.9.1;R – Mittlere Tiefe der Rauheitsmotifs;65
2.7.9.2;Rx – Maximale Tiefe der Profilunregelmäßigkeit;65
2.7.9.3;W – Mittlere Tiefe der Welligkeitsmotifs;65
2.7.9.4;Wx – Maximale Tiefe der Welligkeitsmotifs;65
2.7.9.5;AR – Mittlere Teilung der Rauheitsmotifs;65
2.7.9.6;AW – Mittlere Länge der Welligkeitsmotifs;65
2.7.9.7;Wte – Gesamttiefe der Welligkeit;65
2.7.10;3.10 Statistische Kenngrößen;67
2.7.10.1;3.10.1 Die Oberfläche aus statistischer Sicht;67
2.7.10.2;3.10.2 Rsk – Schiefe des Profils;68
2.7.10.3;3.10.3 Rku – Steilheit des Profils;69
2.7.10.4;3.10.4 AKF – Die Autokorrelationsfunktion;69
2.7.10.5;3.10.5 Fourier-Analyse (nicht genormt);72
2.7.11;3.11 Dreidimensionale Analyse der Oberfläche;73
2.7.11.1;3.11.1 Drall-Kenngrößen;75
2.8;4 Oberflächenmessgeräte;78
2.8.1;4.1 Oberflächenvergleichsmuster;79
2.8.2;4.2 Tastschnittverfahren;80
2.8.2.1;4.2.1 Normen zu Tastschnittgeräten;80
2.8.2.2;4.2.2 Taster;82
2.8.2.3;4.2.3 Vorschubapparat;98
2.8.2.4;4.2.4 Computer;100
2.8.2.5;4.2.5 Anzeige;101
2.8.2.6;4.2.6 Dokumentation;101
2.8.3;4.3 Berührungslose Messung;103
2.8.3.1;4.3.1 Weißlichtsensor;103
2.8.3.2;4.3.2 Alternative Verfahren;105
2.9;5 Messtechnik;112
2.9.1;5.1 Oberflächenmesstechnik mit dem Tastschnittverfahren;113
2.9.1.1;5.1.1 Einstellung der Taststrecke;113
2.9.1.2;5.1.2 Wahl der Grenzwellenlänge des Filters;115
2.9.1.3;5.1.3 Formabweichungen eliminieren;116
2.9.1.4;5.1.4 Ausrichten des Profils;117
2.9.2;5.2 Güteklassen;119
2.9.3;5.3 Kalibrierung der Geräte;120
2.9.3.1;5.3.1 Kalibrierlaboratorien;123
2.9.4;5.4 Rauschen, Schwingungen;125
2.9.4.1;5.4.1 Gleitkufentaster;126
2.9.4.2;5.4.2 Vorschubapparat an Säulen;126
2.9.4.3;5.4.3 Messtische mit Schwingungsdämpfung;127
2.9.5;5.5 Temperatur;128
2.9.6;5.6 Einfluss von Zugluft;128
2.9.7;5.7 Beschädigungen am Werkstück;128
2.9.8;5.8 Sauberkeit;130
2.9.9;5.9 Einfluss von Magnetismus;131
2.9.10;5.10 Oberflächenabdrücke;131
2.9.11;5.11 Statistische Analyse der Ergebnisse;132
2.9.11.1;5.11.1 „16%-Regel“;132
2.9.11.2;5.11.2 „Höchstwert-Regel“;133
2.9.12;5.12 Statistische Prozesskontrolle SPC;133
2.10;6 Filter;136
2.10.1;6.1 Die Grenzwellenlänge des Filters ?c;137
2.10.2;6.2 Gaußfilter nach DIN EN ISO 16610-21:2013-06;138
2.10.3;6.3 Analoge Filter (2RC-Filter);140
2.10.4;6.4 Sonderfilter nach Normenreihe DIN EN ISO 13565 (Rk);141
2.11;7 Messunsicherheit;144
2.11.1;7.1 Theorie;145
2.11.1.1;7.1.1 Mathematisches Modell;146
2.11.1.2;7.1.2 Filterfaktor c;148
2.11.1.3;7.1.3 Unsicherheit der gemittelten Rautiefe Rz;149
2.11.2;7.2 Unsicherheitsbeiträge;149
2.11.2.1;7.2.1 Vorschub und Schwingungsisolierung;149
2.11.2.2;7.2.2 Tastsystem;152
2.11.2.3;7.2.3 Unbekannte systematische Abweichungen;155
2.11.2.4;7.2.4 Streuung der Messwerte s(Rz);156
2.11.3;7.3 Messunsicherheitsbudget;157
2.12;8 Zeichnungseintragungen;160
2.12.1;8.1 Regeln nach DIN EN ISO 1302:2002-08;161
2.12.1.1;8.1.1 Symbole für die Oberflächenbeschaffenheit;161
2.12.1.2;8.1.2 Oberflächenbeschaffenheit am vollständigen Symbol;162
2.12.1.3;8.1.3 Bearbeitungsverfahren;164
2.12.1.4;8.1.4 Übertragungscharakteristik und Einzelmessstrecke;164
2.12.1.5;8.1.5 Oberflächenrillenrichtung;164
2.12.1.6;8.1.6 Bearbeitungszugabe;166
2.12.1.7;8.1.7 Lage und Ausrichtung der Symbole;166
2.12.1.8;8.1.8 Vereinfachte Zeichnungseintragung;167
2.12.1.9;8.1.9 Ausblick ISO 21920 – Zeichnungseintragungen;168
2.13;9 DIN-Normen und VDI-Richtlinien;170
2.13.1;9.1 Technische Oberflächen;171
2.13.1.1;9.1.1 Entwicklung;171
2.13.1.2;9.1.2 Konstruktion;172
2.13.1.3;9.1.3 Fertigung;173
2.13.1.4;9.1.4 Qualitätsprüfung;174
2.13.2;9.2 Weiterentwicklung der Normung;186
2.13.2.1;9.2.1 ISO 21920 Profilnorm;186
2.13.2.2;9.2.2 Neue Filterverfahren;188
2.13.2.3;9.2.3 Unterschiedliche Interpretationen beim Rmax und Rz1max;188
2.13.3;9.3 Anleitungen zur Ermittlung der Messunsicherheit;190
2.13.4;9.4 Normen und Richtlinien aus angrenzenden Bereichen;191
2.14;10 Literatur;194
2.14.1;10.1 Entwicklung der Oberflächenmesstechnik;195
2.14.2;10.2 Standardwerke;195
2.14.2.1;10.2.1 Bodschwinna; Hillmann (1992);195
2.14.2.2;10.2.2 Whitehouse (1994);196
2.14.2.3;10.2.3 Thomas (1999);196
2.14.2.4;10.2.4 Leach (2013);196
2.15;Abkürzungsverzeichnis;197
2.16;Stichwortverzeichnis;201
