Chattopadhyay | Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems | E-Book | www.sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, 138 Seiten

Chattopadhyay Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems


1. Auflage 2018
ISBN: 978-1-351-22777-3
Verlag: Taylor & Francis eBooks
Format: PDF
 Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)

E-Book, Englisch, 138 Seiten

ISBN: 978-1-351-22777-3
Verlag: Taylor & Francis eBooks
Format: PDF
 Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)

Chattopadhyay Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems jetzt bestellen!

Autoren/Hrsg.

Chattopadhyay, Santanu
Ihre Fragen, Wünsche oder Anmerkungen
Vorname*
Nachname*
Ihre E-Mail-Adresse*
Kundennr.
Ihre Nachricht*
Lediglich mit * gekennzeichnete Felder sind Pflichtfelder.
Wenn Sie die im Kontaktformular eingegebenen Daten durch Klick auf den nachfolgenden Button übersenden, erklären Sie sich damit einverstanden, dass wir Ihr Angaben für die Beantwortung Ihrer Anfrage verwenden. Selbstverständlich werden Ihre Daten vertraulich behandelt und nicht an Dritte weitergegeben. Sie können der Verwendung Ihrer Daten jederzeit widersprechen. Das Datenhandling bei Sack Fachmedien erklären wir Ihnen in unserer Datenschutzerklärung.