Cressler | Measurement and Modeling of Silicon Heterostructure Devices | E-Book | www.sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, 200 Seiten

Cressler Measurement and Modeling of Silicon Heterostructure Devices


Erscheinungsjahr 2018
ISBN: 978-1-351-83476-6
Verlag: Taylor & Francis eBooks
Format: EPUB
 Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)

E-Book, Englisch, 200 Seiten

ISBN: 978-1-351-83476-6
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Autoren/Hrsg.

Cressler, John D.
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