Ergebnisse filtern
-
- 4
- 2
-
- 2
- 1
- 1
- 2
-
- 6
- 3
- 3
- 1
-
- 4
- 2
-
- 6
-
- 6
-
- 6
-
- 6
-
Alexe / Gruverman Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials
Scanning Probe Microscopy Approach2004Verlag: SpringerISBN: 978-3-662-08901-9Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
-
Gösele / Alexe Wafer Bonding
Applications and Technology1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2004Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-05915-5Medium: Buch374,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Gösele / Alexe Wafer Bonding
Applications and Technology2004Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-21049-8Medium: Buch374,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Gruverman / Alexe Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials
Scanning Probe Microscopy Approach2004Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-20662-0Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
-
Alexe / Gösele Wafer Bonding
Applications and TechnologyErscheinungsjahr 2013Verlag: SpringerISBN: 978-3-662-10827-7Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark362,73 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
-
Gruverman / Alexe Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials
Scanning Probe Microscopy Approach1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2004Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-05844-8Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
Ist Ihr gesuchter Titel nicht Teil der Ergebnisse? Dann nutzen Sie unser Kontaktformular
Bitte ändern Sie das Passwort
