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Goel / Chakrabarty Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
1. Auflage 2013Verlag: CRC PressISBN: 978-1-4398-2941-7Medium: Buch209,50 € (inkl. MwSt.)
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Goel / Chakrabarty Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
1. Auflage 2013Verlag: CRC PressISBN: 978-1-4398-2942-4Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)108,99 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Goel / Chakrabarty Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
Erscheinungsjahr 2017Verlag: Taylor & Francis eBooksISBN: 978-1-351-83370-7Medium: eBookFormat: EPUB
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)107,99 € (inkl. MwSt.)
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Goel / Chakrabarty Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits
1. Auflage 2017Verlag: CRC PressISBN: 978-1-138-07577-1Medium: Buch119,70 € (inkl. MwSt.)
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