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Nadeau-Dostie Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement
Erscheinungsjahr 2006Verlag: Springer USISBN: 978-0-306-47544-3Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
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Nadeau-Dostie Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement
2000Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-8669-8Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Nadeau-Dostie Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement
2000Verlag: Springer USISBN: 978-1-4757-8291-2Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Wang / Wu / Wen VLSI Test Principles and Architectures
Design for TestabilityErscheinungsjahr 2006Verlag: Elsevier ScienceISBN: 978-0-12-370597-6Medium: Buch85,50 € (inkl. MwSt.)
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