Stolz / Chen | Internationalität und Interdisziplinarität der Editionswissenschaft | E-Book | www.sack.de
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E-Book, Deutsch, Band 38, 332 Seiten

Reihe: editio / Beihefte

Stolz / Chen Internationalität und Interdisziplinarität der Editionswissenschaft


1. Auflage 2014
ISBN: 978-3-11-038596-0
Verlag: De Gruyter
Format: EPUB
 Kopierschutz: 6 - ePub Watermark

E-Book, Deutsch, Band 38, 332 Seiten

Reihe: editio / Beihefte

ISBN: 978-3-11-038596-0
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Autoren/Hrsg.

Stolz, Michael
Chen, Yen-Chun

Fachgebiete

Weitere Infos & Material

Michael Stolz und Yen-Chun Chen, Universität Bern, Schweiz.

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