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Oberflächen- und Grenzflächenphysik, Dünne Schichten

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    Bhushan | Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 2 | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 2

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2011
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-662-50601-1
    Medium: Buch
    213,99 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan | Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 3 | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 3

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2013
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-662-50725-4
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan | Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 3 | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 3

    2012
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-25413-0
    Medium: Buch
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    Bhushan | Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 2 | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 2

    1. Auflage 2011
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-10496-1
    Medium: Buch
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    Tiginyanu / Ursaki / Topala | Nanostructures and Thin Films for Multifunctional Applications | Buch | Sack Fachmedien

    Tiginyanu / Ursaki / Topala Nanostructures and Thin Films for Multifunctional Applications

    Technology, Properties and Devices
    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2016
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-80747-8
    Medium: Buch
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    Tiginyanu / Ursaki / Topala | Nanostructures and Thin Films for Multifunctional Applications | Buch | Sack Fachmedien

    Tiginyanu / Ursaki / Topala Nanostructures and Thin Films for Multifunctional Applications

    Technology, Properties and Devices
    1. Auflage 2016
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-30197-6
    Medium: Buch
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    Bhushan / Nosonovsky | Multiscale Dissipative Mechanisms and Hierarchical Surfaces | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Nosonovsky Multiscale Dissipative Mechanisms and Hierarchical Surfaces

    Friction, Superhydrophobicity, and Biomimetics
    2008
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-78424-1
    Medium: Buch
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    Bhushan / Nosonovsky | Multiscale Dissipative Mechanisms and Hierarchical Surfaces | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Nosonovsky Multiscale Dissipative Mechanisms and Hierarchical Surfaces

    Friction, Superhydrophobicity, and Biomimetics
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09716-4
    Medium: Buch
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    Heitmann | Quantum Materials, Lateral Semiconductor Nanostructures, Hybrid Systems and Nanocrystals | Buch | Sack Fachmedien

    Heitmann Quantum Materials, Lateral Semiconductor Nanostructures, Hybrid Systems and Nanocrystals

    Lateral Semiconductor Nanostructures, Hybrid Systems and Nanocrystals
    1. Auflage. 2010
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-10552-4
    Medium: Buch
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods XIII | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods XIII

    Biomimetics and Industrial Applications
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2009
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09872-7
    Medium: Buch
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    Persson | Sliding Friction | Buch | Sack Fachmedien

    Persson Sliding Friction

    Physical Principles and Applications
    2. Auflage 2000
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-08652-6
    Medium: Buch
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    Takagahara / Masumoto | Semiconductor Quantum Dots | Buch | Sack Fachmedien

    Takagahara / Masumoto Semiconductor Quantum Dots

    Physics, Spectroscopy and Applications
    2002
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-42805-3
    Medium: Buch
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods VII | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods VII

    Biomimetics and Industrial Applications
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2007
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-07213-0
    Medium: Buch
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    Persson | Sliding Friction | Buch | Sack Fachmedien

    Persson Sliding Friction

    Physical Principles and Applications
    2. Auflage 2000
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-67192-3
    Medium: Buch
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    Takagahara / Masumoto | Semiconductor Quantum Dots | Buch | Sack Fachmedien

    Takagahara / Masumoto Semiconductor Quantum Dots

    Physics, Spectroscopy and Applications
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2002
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-07675-6
    Medium: Buch
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    Bhushan / Tomitori / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods X | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Tomitori / Fuchs Applied Scanning Probe Methods X

    Biomimetics and Industrial Applications
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09342-5
    Medium: Buch
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    Bhushan / Tomitori / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods X | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Tomitori / Fuchs Applied Scanning Probe Methods X

    Biomimetics and Industrial Applications
    2008
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-74084-1
    Medium: Buch
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods XIII | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods XIII

    Biomimetics and Industrial Applications
    2009
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-85048-9
    Medium: Buch
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods VII | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods VII

    Biomimetics and Industrial Applications
    2007
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-37320-9
    Medium: Buch
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    Raza | Graphene Nanoelectronics | Buch | Sack Fachmedien

    Raza Graphene Nanoelectronics

    Metrology, Synthesis, Properties and Applications
    2012
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-20467-8
    Medium: Buch
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    Raza | Graphene Nanoelectronics | Buch | Sack Fachmedien

    Raza Graphene Nanoelectronics

    Metrology, Synthesis, Properties and Applications
    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2012
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-662-51990-5
    Medium: Buch
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    Zvelindovsky | Nanostructured Soft Matter | Buch | Sack Fachmedien

    Zvelindovsky Nanostructured Soft Matter

    Experiment, Theory, Simulation and Perspectives
    1. Auflage 2007
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-1-4020-6329-9
    Medium: Buch
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    Foster / Hofer | Scanning Probe Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Foster / Hofer Scanning Probe Microscopy

    Atomic Scale Engineering by Forces and Currents
    and Auflage
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-0-387-40090-7
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Foster / Hofer | Scanning Probe Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Foster / Hofer Scanning Probe Microscopy

    Atomic Scale Engineering by Forces and Currents
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2006
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-1-4419-2306-6
    Medium: Buch
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    Morita | Roadmap of Scanning Probe Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Morita Roadmap of Scanning Probe Microscopy

    2007
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-34314-1
    Medium: Buch
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods XI | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods XI

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    2009
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-85036-6
    Medium: Buch
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    Bhushan / Hosaka / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods I | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Hosaka / Fuchs Applied Scanning Probe Methods I

    2004
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-00527-8
    Medium: Buch
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods XII | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods XII

    Characterization
    2009
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-85038-0
    Medium: Buch
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    Bhushan / Hosaka / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods I | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Hosaka / Fuchs Applied Scanning Probe Methods I

    Softcover version of original hardcover Auflage 2004
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-05602-4
    Medium: Buch
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    Bhushan / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs Applied Scanning Probe Methods

    Volumes I - XIII
    1. Auflage 2011
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-88823-9
    Medium: Buch
    534,99 € (inkl. MwSt.)
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    Gölzhäuser / Hlawacek | Helium Ion Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Gölzhäuser / Hlawacek Helium Ion Microscopy

    1. Auflage 2016
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-41988-6
    Medium: Buch
    246,09 € (inkl. MwSt.)
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods II | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods II

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    2006
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-26242-8
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods XII | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods XII

    Characterization
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2009
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09870-3
    Medium: Buch
    117,69 € (inkl. MwSt.)
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    Michler | Single Semiconductor Quantum Dots | Buch | Sack Fachmedien

    Michler Single Semiconductor Quantum Dots

    Softcover Nachdruck of hardcover 1. Auflage 2009
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09955-7
    Medium: Buch
    213,99 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan / Tomitori / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods VIII | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Tomitori / Fuchs Applied Scanning Probe Methods VIII

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    2008
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-74079-7
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan / Tomitori / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods IX | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Tomitori / Fuchs Applied Scanning Probe Methods IX

    Characterization
    2008
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-74082-7
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Landman / Heiz | Nanocatalysis | Buch | Sack Fachmedien

    Landman / Heiz Nanocatalysis

    1. Auflage 2007. 2. printing 2007
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-74551-8
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Hu / Chen / Jiang | Emerging Nanotechnologies in Nanocellulose | Buch | Sack Fachmedien

    Hu / Chen / Jiang Emerging Nanotechnologies in Nanocellulose

    1. Auflage 2023
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-031-14042-6
    Medium: Buch
    181,89 € (inkl. MwSt.)
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    Wiesendanger | Scanning Probe Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Wiesendanger Scanning Probe Microscopy

    Analytical Methods
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 1998
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-08360-0
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Gölzhäuser / Hlawacek | Helium Ion Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Gölzhäuser / Hlawacek Helium Ion Microscopy

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2016
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-82473-4
    Medium: Buch
    246,09 € (inkl. MwSt.)
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    Le Lay / Vogt | Silicene | Buch | Sack Fachmedien

    Le Lay / Vogt Silicene

    Prediction, Synthesis, Application
    1. Auflage 2018
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-99962-3
    Medium: Buch
    149,79 € (inkl. MwSt.)
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    Michler | Single Semiconductor Quantum Dots | Buch | Sack Fachmedien

    Michler Single Semiconductor Quantum Dots

    2009
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-87445-4
    Medium: Buch
    213,99 € (inkl. MwSt.)
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    Morita / Meyer / Wiesendanger | Noncontact Atomic Force Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Morita / Meyer / Wiesendanger Noncontact Atomic Force Microscopy

    2002
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-43117-6
    Medium: Buch
    213,99 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan / Tomitori / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods IX | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Tomitori / Fuchs Applied Scanning Probe Methods IX

    Characterization
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09341-8
    Medium: Buch
    117,69 € (inkl. MwSt.)
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods II | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods II

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2006
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-06569-9
    Medium: Buch
    117,69 € (inkl. MwSt.)
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods IV | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods IV

    Industrial Applications
    Softcover version of original hardcover Auflage 2006
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-06597-2
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Hu / Chen / Jiang | Emerging Nanotechnologies in Nanocellulose | Buch | Sack Fachmedien

    Hu / Chen / Jiang Emerging Nanotechnologies in Nanocellulose

    1. Auflage 2023
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-031-14045-7
    Medium: Buch
    181,89 € (inkl. MwSt.)
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    Shchukin / Bimberg / Ledentsov | Epitaxy of Nanostructures | Buch | Sack Fachmedien

    Shchukin / Bimberg / Ledentsov Epitaxy of Nanostructures

    2004
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-67817-5
    Medium: Buch
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    Kawata / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods VI | Buch | Sack Fachmedien

    Kawata / Bhushan Applied Scanning Probe Methods VI

    Characterization
    2007
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-37318-6
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods III | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods III

    Characterization
    2006
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-26909-0
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Gruverman / Alexe | Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials | Buch | Sack Fachmedien

    Gruverman / Alexe Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials

    Scanning Probe Microscopy Approach
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2004
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-05844-8
    Medium: Buch
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    Bhushan / Kawata / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods V | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Kawata / Fuchs Applied Scanning Probe Methods V

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    2007
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-37315-5
    Medium: Buch
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    Kawata / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods VI | Buch | Sack Fachmedien

    Kawata / Bhushan Applied Scanning Probe Methods VI

    Characterization
    Softcover version of original hardcover Auflage 2007
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-07212-3
    Medium: Buch
    117,69 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan / Kawata / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods V | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Kawata / Fuchs Applied Scanning Probe Methods V

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    Softcover version of original hardcover Auflage 2007
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-07211-6
    Medium: Buch
    117,69 € (inkl. MwSt.)
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods III | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods III

    Characterization
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2006
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-06596-5
    Medium: Buch
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    Wiesendanger | Scanning Probe Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Wiesendanger Scanning Probe Microscopy

    Analytical Methods
    1998
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-63815-5
    Medium: Buch
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    Gruverman / Alexe | Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials | Buch | Sack Fachmedien

    Gruverman / Alexe Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials

    Scanning Probe Microscopy Approach
    2004
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-20662-0
    Medium: Buch
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    Bhushan / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods IV | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs Applied Scanning Probe Methods IV

    Industrial Applications
    1. Auflage 2006
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-26912-0
    Medium: Buch
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods XI | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods XI

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2009
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09869-7
    Medium: Buch
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    Bhushan / Tomitori / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods VIII | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Tomitori / Fuchs Applied Scanning Probe Methods VIII

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09340-1
    Medium: Buch
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    Morita | Roadmap of Scanning Probe Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Morita Roadmap of Scanning Probe Microscopy

    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2007
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-07069-3
    Medium: Buch
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    Shchukin / Bimberg / Ledentsov | Epitaxy of Nanostructures | Buch | Sack Fachmedien

    Shchukin / Bimberg / Ledentsov Epitaxy of Nanostructures

    Softcover version of original hardcover Auflage 2004
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-08735-6
    Medium: Buch
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