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Ibe Terrestrial Radiation Effects in ULSI Devices and Electronic Systems
1. Auflage 2016Verlag: John Wiley & SonsISBN: 978-1-118-47932-2Medium: eBookFormat: EPUB
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)123,99 € (inkl. MwSt.)
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Kanekawa / Ibe / Suga Dependability in Electronic Systems
Mitigation of Hardware Failures, Soft Errors, and Electro-Magnetic Disturbances1. Auflage 2010Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-6715-2Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
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Kanekawa / Uematsu / Ibe Dependability in Electronic Systems
Mitigation of Hardware Failures, Soft Errors, and Electro-Magnetic Disturbances2011Verlag: SpringerISBN: 978-1-4899-8594-1Medium: Buch119,99 € (inkl. MwSt.)
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