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El Hami / Pougnet Embedded Mechatronic Systems, Volume 1
Analysis of Failures, Predictive Reliability1. Auflage 2015Verlag: Elsevier Science & Techn.ISBN: 978-0-08-100484-5Medium: eBookFormat: EPUB
Kopierschutz: 6 - ePub Watermark92,65 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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El Hami / Pougnet Embedded Mechatronic Systems, Volume 2
Analysis of Failures, Modeling, Simulation and Optimization1. Auflage 2015Verlag: Elsevier Science & Techn.ISBN: 978-0-08-100469-2Medium: eBookFormat: EPUB
Kopierschutz: 6 - ePub Watermark92,95 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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El Hami / Pougnet Embedded Mechatronic Systems 2
2. Auflage 2020Verlag: Elsevier Science & TechnologyISBN: 978-1-78548-190-1Medium: Buch97,27 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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El Hami / Pougnet Embedded Mechatronic Systems
Analysis of Failures, Predictive Reliability2. Auflage 2019Verlag: Elsevier Science & Techn.ISBN: 978-0-08-101955-9Medium: eBookFormat: EPUB
Kopierschutz: 6 - ePub Watermark92,95 € (inkl. MwSt.)
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El Hami / Pougnet Embedded Mechatronic Systems
Analysis of Failures, Predictive Reliability2 edVerlag: ISTE Press Ltd - Elsevier IncISBN: 978-1-78548-189-5Medium: Buch96,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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El Hami / Pougnet Embedded Mechatronic Systems 2
Analysis of Failures, Modeling, Simulation and Optimization2. Auflage 2020Verlag: Elsevier Science & Techn.ISBN: 978-0-08-101956-6Medium: eBookFormat: EPUB
Kopierschutz: 6 - ePub Watermark92,95 € (inkl. MwSt.)
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El Hami / Pougnet Embedded Mechatronic Systems, Volume 2
Analysis of Failures, Modeling, Simulation and OptimizationErscheinungsjahr 2015Verlag: ISTE Press Ltd - Elsevier IncISBN: 978-1-78548-014-0Medium: Buch111,50 € (inkl. MwSt.)
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Dahoo / Pougnet / El Hami Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2
Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method1. Auflage 2021Verlag: John Wiley & SonsISBN: 978-1-119-81896-0Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)139,99 € (inkl. MwSt.)
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Dahoo / Pougnet / El Hami Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2
Measurement Systems, Quantum Engineering and Rbdo Method1. Auflage 2021Verlag: WileyISBN: 978-1-78630-687-6Medium: Buch168,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Dahoo / Pougnet / El Hami Applications and Metrology at Nanometer Scale 1
Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties1. Auflage 2021Verlag: WileyISBN: 978-1-78630-640-1Medium: Buch169,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Dahoo / Pougnet / El Hami Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
1. Auflage 2016Verlag: John Wiley & SonsISBN: 978-1-119-32968-8Medium: eBookFormat: EPUB
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)139,99 € (inkl. MwSt.)
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Dahoo / Pougnet / El Hami Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
1. Auflage 2016Verlag: John Wiley & SonsISBN: 978-1-119-32965-7Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)139,99 € (inkl. MwSt.)
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Dahoo / Pougnet / El Hami Applications and Metrology at Nanometer Scale 1
Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties1. Auflage 2021Verlag: WileyISBN: 978-1-119-80814-5Medium: eBookFormat: EPUB
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)139,99 € (inkl. MwSt.)
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Dahoo / Pougnet / El Hami Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light
1. Auflage 2016Verlag: WileyISBN: 978-1-84821-936-6Medium: Buch169,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Dahoo / Pougnet / El Hami Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2
Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method1. Auflage 2021Verlag: John Wiley & SonsISBN: 978-1-119-81897-7Medium: eBookFormat: EPUB
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)139,99 € (inkl. MwSt.)
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Dahoo / Pougnet / El Hami Applications and Metrology at Nanometer Scale 1
Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties1. Auflage 2021Verlag: WileyISBN: 978-1-119-80822-0Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)139,99 € (inkl. MwSt.)
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