Ergebnisse filtern
- Fachgebiet
- Medium
-
- 14
- 3
- Erscheinungsjahr
-
- 2
- 5
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- Autoren
-
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 4
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 2
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 2
- 1
- 2
- 1
- 1
- 2
- 3
- 2
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 3
- 1
- 1
- 3
- 2
- 2
- 1
- 1
- 2
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 4
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 4
- 1
- 1
- 2
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 2
- 6
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 3
- 2
- 2
- 2
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 2
- 1
- 2
- 1
- 2
- 2
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 2
- 2
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 17
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 2
- 1
- 2
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 3
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 3
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 2
- 1
- 2
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 3
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 2
- 1
- 3
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 3
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 2
- 1
- 2
- 1
- 1
- 4
- 2
- 3
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 3
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 3
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 2
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 2
- 2
- 1
- 1
- 2
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 3
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 3
- 1
- 1
- 2
- 2
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 4
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 4
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 3
- 1
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 2
- 4
- 1
- 2
- 1
- 2
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 7
- 1
- Verlag
-
- 8
- 1
- 3
- 1
- 2
- 1
- 1
- Preis
-
- 2
- 3
- 12
- Sprachen
-
- 17
- Verfügbarkeit
-
- 17
- Katalog
-
- 17
Artikel pro Seite:
Sortierung nach:
-
Ho Electromigration in Metals
Fundamentals to Nano-InterconnectsErscheinungsjahr 2022Verlag: Cambridge University PressISBN: 978-1-009-28779-1Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)78,99 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar78,99 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Baklanov / Ho / Zschech Advanced Interconnects for ULSI Technology
1. Auflage 2012Verlag: John Wiley & SonsISBN: 978-1-119-96324-0Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)153,99 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar153,99 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Ogawa / Ho / Zschech Stress-Induced Phenomena in Metallization
Ninth International Workshop on Stress-Induced Phenomena in Metallization1. Auflage 2007Verlag: AIP PressISBN: 978-0-7354-0459-5Medium: Buch174,68 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen174,68 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen -
Zschech / Ogawa / Ho Stress-Induced Phenomena in Metallization
11th International Workshop1. Auflage 2010Verlag: AIP PressISBN: 978-0-7354-0855-5Medium: Buch139,05 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen139,05 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen -
Baklanov / Ho / Zschech Advanced Interconnects for ULSI Technology
1. Auflage 2012Verlag: WileyISBN: 978-0-470-66254-0Medium: Buch230,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen230,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen -
Ho / Zschech / Ogawa Stress-Induced Phenomena in Metallization
Tenth International Workshop on Stress-Induced Phenomena in Metallization1. Auflage 2009Verlag: AIP PressISBN: 978-0-7354-0680-3Medium: Buch110,37 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen110,37 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen -
Baklanov / Ho / Zschech Advanced Interconnects for ULSI Technology
1. Auflage 2012Verlag: Wiley-ISTEISBN: 978-1-119-96686-9Medium: eBookFormat: EPUB
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)153,99 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar153,99 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Ho / Leu / Lee Low Dielectric Constant Materials for IC Applications
1. Auflage 2002Verlag: SpringerISBN: 978-3-540-67819-9Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferfrist: bis zu 10 Werktage -
Ho / Leu / Lee Low Dielectric Constant Materials for IC Applications
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2003Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-63221-1Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferfrist: bis zu 10 Werktage -
Ho / Hu / Gall Electromigration in Metals
Fundamentals to Nano-InterconnectsErscheinungsjahr 2022Verlag: Cambridge University PressISBN: 978-1-107-03238-5Medium: Buch97,00 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen97,00 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen -
Ho / Bravman / Li Stress-Induced Phenomena in Metallization
Third International Workshop1. Auflage 1996Verlag: AIP PressISBN: 978-1-56396-439-8Medium: Buch223,63 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen223,63 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen -
Ho / Baker / Nakamura Stress-Induced Phenomena in Metallization
Seventh International Workshop on Stress-Induced Phenomena in Metallization1. Auflage 2005Verlag: AIP PressISBN: 978-0-7354-0225-6Medium: Buch184,04 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen184,04 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen -
Zschech / Maex / Ho Stress-Induced Phenomena in Metallization
Eighth International Workshop on Stress-Induced Phenomena in Metallization1. Auflage 2006Verlag: AIP PressISBN: 978-0-7354-0310-9Medium: Buch197,95 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen197,95 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen -
Baker / Korhonen / Arzt Stress Induced Phenomena in Metallization
Sixth International Workshop on Stress Induced Phenomena in Metallization, Ithaca, New York, 25-27 July 20011. Auflage 2002Verlag: AIP PressISBN: 978-0-7354-0058-0Medium: Buch123,00 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen123,00 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen -
Rodbell / Filter / Frost Materials Reliability in Microelectronics III
Volume 309Erscheinungsjahr 2012Verlag: Cambridge University PressISBN: 978-1-107-40948-4Medium: Buch41,20 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage41,20 € (inkl. MwSt.)
Lieferfrist: bis zu 10 Werktage -
Rodbell / Filter / Frost Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309
Erscheinungsjahr 1993Verlag: CAMBRIDGEISBN: 978-1-55899-205-4Medium: Buch37,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen37,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen -
Kraft / Arzt / Volkert Stress induced Phenomena in Metallization: Fifth International Workshop
Stuttgart, Germany, June 23-25, 19991. Auflage 1999Verlag: AIP PressISBN: 978-1-56396-904-1Medium: Buch67,36 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen67,36 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 3 bis 4 Wochen
Artikel pro Seite:
Sortierung nach:
vorherige Seite
nächste Seite
Artikel pro Seite:
Sortierung nach:
Bitte ändern Sie das Passwort