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Orloff Handbook of Charged Particle Optics, Second Edition
2. Auflage 2008Verlag: Taylor & FrancisISBN: 978-1-4200-4555-0Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)250,99 € (inkl. MwSt.)
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Orloff Handbook of Charged Particle Optics
2. New Auflage 2008Verlag: Taylor & Francis IncISBN: 978-1-4200-4554-3Medium: Buch191,50 € (inkl. MwSt.)
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Orloff Handbook of Charged Particle Optics
2. Auflage 2017Verlag: Taylor & Francis eBooksISBN: 978-1-351-83577-0Medium: eBookFormat: EPUB
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)250,99 € (inkl. MwSt.)
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Orloff / Utlaut / Swanson High Resolution Focused Ion Beams: FIB and its Applications
The Physics of Liquid Metal Ion Sources and Ion Optics and Their Application to Focused Ion Beam Technology2003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4613-5229-7Medium: Buch235,39 € (inkl. MwSt.)
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Orloff / Utlaut / Swanson High Resolution Focused Ion Beams: FIB and its Applications
The Physics of Liquid Metal Ion Sources and Ion Optics and Their Application to Focused Ion Beam Technology2003Verlag: Springer USISBN: 978-0-306-47350-0Medium: Buch235,39 € (inkl. MwSt.)
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Orloff / Swanson / Utlaut High Resolution Focused Ion Beams: FIB and its Applications
The Physics of Liquid Metal Ion Sources and Ion Optics and Their Application to Focused Ion Beam TechnologyErscheinungsjahr 2012Verlag: Springer USISBN: 978-1-4615-0765-9Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark223,63 € (inkl. MwSt.)
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