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E-Book, Deutsch, 79 Seiten, Format (B × H): 210 mm x 105 mm

Reihe: DIN Media Pocket

e.V. / Rahlves / Seewig Optisches Messen technischer Oberflächen


Messprinzipien und Begriffe

E-Book, Deutsch, 79 Seiten, Format (B × H): 210 mm x 105 mm

Reihe: DIN Media Pocket

ISBN: 978-3-410-17422-6
Verlag: DIN Media
Format: PDF
 Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)

Das Pocket beschreibt systematisch mit Kurztexten und unter Verwendung zahlreicher Abbildungen die wichtigsten optischen Messprinzipien nach Anwendungsbereich, Spezifikation, Funktionsprinzip und Bauarten. Zusätzlich werden die entsprechenden Normen und Richtlinien aufgelistet. Das handliche Nachschlagewerk wird durch ein Glossar der wesentlichen Begriffe sinnvoll ergänzt.
e.V. / Rahlves / Seewig Optisches Messen technischer Oberflächen jetzt bestellen!

Autoren/Hrsg.

Rahlves, M.
Rahlves, Maik
Seewig, Jörg
e.V., DIN

Fachgebiete

Weitere Infos & Material

1;Volltextsuche;1
2;Optisches Messen technischer Oberflächen;1
2.1;Titel;3
2.2;Impressum / Copyright;4
2.3;Vorwort;5
2.4;Die Autoren;6
2.5;Inhalt;7
2.6;Messprinzipien;12
2.6.1;Autofokussensor;13
2.6.2;Chromatisch-konfokale Spektral-Interferometrie;15
2.6.3;Deflektometrie;17
2.6.4;Ellipsometrie;19
2.6.5;Fokus-Variation;21
2.6.6;Formprüfinterferometrie;23
2.6.7;Fotogrammetrie;25
2.6.8;Interferometrie (Homodyne);27
2.6.9;Interferometrie (Heterodyne);29
2.6.10;Konfokales Mikroskop;31
2.6.11;Konfokal-chromatischer Sensor;33
2.6.12;Konoskopischer Sensor;35
2.6.13;Lasertracer;37
2.6.14;Optische Kohärenztomografie;39
2.6.15;Streifenprojektion;41
2.6.16;Streulichtsensor;43
2.6.17;Triangulationssensor;45
2.6.18;Weißlichtinterferometer;47
2.7;Glossar;49
2.7.1;Aberration;49
2.7.2;Abbe’sche Sinusbedingung;50
2.7.3;Abbildungsfehler;51
2.7.4;Abbildungsmaßstab;51
2.7.5;Achromat;51
2.7.6;Airy-Scheibchen;51
2.7.7;Akustooptischer Modulator (AOM);51
2.7.8;Amplitude;52
2.7.9;Apertur;52
2.7.10;Aplanatische Abbildung;52
2.7.11;Asphäre;52
2.7.12;Auflösung;52
2.7.13;Batwings;53
2.7.14;Beugung;53
2.7.15;Beugungsbegrenzung;54
2.7.16;Beugungsordnung;54
2.7.17;Beugungsscheibchen;54
2.7.18;Bildfeld;54
2.7.19;Blende;54
2.7.20;Blendenzahl;54
2.7.21;Brechungsgesetz;54
2.7.22;Brechungsindex;55
2.7.23;Brechkraft;55
2.7.24;Brechzahl;55
2.7.25;Brennpunkt;55
2.7.26;Brennweite;55
2.7.27;Brewster Winkel;56
2.7.28;CCD/CMOS;56
2.7.29;CMOS-Chip;56
2.7.30;Diffraktive Optische Elemente (DOE);56
2.7.31;Dispersion;56
2.7.32;Doppelbrechung;56
2.7.33;Dopplereffekt;57
2.7.34;Ebene Welle;57
2.7.35;Elektrisches Feld;57
2.7.36;Elektromagnetische Welle;57
2.7.37;Elliptisch Polarisiertes Licht;58
2.7.38;Evaneszente Welle;58
2.7.39;Fermat’sches Prinzip;58
2.7.40;Fernfeld;58
2.7.41;Fotodiode;58
2.7.42;Foucault’sche Schneide;58
2.7.43;Fourieroptik;59
2.7.44;Fraunhofer Beugung;59
2.7.45;Frequenz;59
2.7.46;Fresnel’sche Beugung;59
2.7.47;Fresnel’sche Formeln;59
2.7.48;Fresnellinse;60
2.7.49;Fresnelzahl;61
2.7.50;Gauß’scher Strahl;61
2.7.51;Geometrische Optik;61
2.7.52;Glasfaser;62
2.7.53;GRIN-Linsen;62
2.7.54;Heterodyne Interferometer;62
2.7.55;Holografie;62
2.7.56;Homodyne Interferometer;62
2.7.57;Homologe Bildpunkte;63
2.7.58;Huygen’sches Prinzip;63
2.7.59;Intensität;63
2.7.60;Interferenz;63
2.7.61;Interferometrie;64
2.7.62;Jones-Vektor;64
2.7.63;Kohärenz;64
2.7.64;Kohärenzlänge;64
2.7.65;Kollimator;64
2.7.66;Konkav;65
2.7.67;Kontrast;65
2.7.68;Konvex;65
2.7.69;Korrelogramm;65
2.7.70;Kugelwelle;65
2.7.71;l/n-Platte;65
2.7.72;LASER (Light Amplification by Stimulated Emission of Radiation);66
2.7.73;Lichtgeschwindigkeit;66
2.7.74;Lichtwellenleiter;66
2.7.75;Linse;66
2.7.76;Linsenfehler;66
2.7.77;Linsengleichung;67
2.7.78;Linsenmachergleichung;67
2.7.79;Magnetisches Feld;67
2.7.80;Maxwell’sche Gleichungen;68
2.7.81;Monochromatisches Licht;68
2.7.82;Nahfeld;68
2.7.83;Nichtlineare Optik;68
2.7.84;Nipkow-Scheibe;68
2.7.85;Numerische Apertur;68
2.7.86;Objektstrahl;69
2.7.87;Optisch dünn/dick;69
2.7.88;Optische Achse;69
2.7.89;Optische Transferfunktion (OTF);69
2.7.90;Optischer Weg;69
2.7.91;Ortsfrequenz;69
2.7.92;P-Polarisation;70
2.7.93;Paraxiale Näherung;70
2.7.94;Phase;70
2.7.95;Phasenverschiebung;70
2.7.96;Photon;70
2.7.97;Pinhole;70
2.7.98;Polarisation;70
2.7.99;Polarisationsfilter;71
2.7.100;Polychromatisches Licht;71
2.7.101;Prisma;71
2.7.102;Punktbildfunktion;71
2.7.103;Punktlichtquelle;72
2.7.104;Raumfrequenz;72
2.7.105;Raumfrequenzfilter;72
2.7.106;Räumliche Kohärenz;72
2.7.107;Referenzstrahl;73
2.7.108;Reflektionsgesetz;73
2.7.109;Refraktive Optik;73
2.7.110;S-Polarisation;73
2.7.111;Sammellinse;73
2.7.112;Schärfentiefe;73
2.7.113;Scheimpflugbedingung;74
2.7.114;Schwebung;74
2.7.115;Sinusbedingung;74
2.7.116;Snellius’sches Gesetz;74
2.7.117;Specklemuster;75
2.7.118;Spektrum;75
2.7.119;Spektrometer;75
2.7.120;Stokes-Parameter;75
2.7.121;Strahlteiler;75
2.7.122;Streulinse;76
2.7.123;Totalreflexion;76
2.7.124;Tripelspiegel;76
2.7.125;Vergrößerung;76
2.7.126;Verzögerungsplatte;76
2.7.127;Weißlicht;77
2.7.128;Welle;77
2.7.129;Wellenfront;77
2.7.130;Wellenlänge;77
2.7.131;Wellenoptik;77
2.7.132;Wellenvektor;78
2.7.133;Wellenzahl;78
2.7.134;Zirkular polarisiertes Licht;78
2.7.135;Zeitliche Kohärenz;78
2.8;Normen und Richtlinien;79

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