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Technische Wissenschaften

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    Anis / Abdel Halim / Chawky | Mapping Innovation | Buch | Sack Fachmedien

    Anis / Abdel Halim / Chawky Mapping Innovation

    The Discipline of Building Opportunity across Value Chains
    1. Auflage 2023
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-030-93629-7
    Medium: Buch
    53,49 € (inkl. MwSt.)
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    Anis / Abdel Halim / Chawky | Mapping Innovation | Buch | Sack Fachmedien

    Anis / Abdel Halim / Chawky Mapping Innovation

    The Discipline of Building Opportunity across Value Chains
    1. Auflage 2023
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-030-93626-6
    Medium: Buch
    53,49 € (inkl. MwSt.)
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    Anis / Elsemary / AlTaher | Nanovate | Buch | Sack Fachmedien

    Anis / Elsemary / AlTaher Nanovate

    Commercializing Disruptive Nanotechnologies
    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2017
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-83151-0
    Medium: Buch
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    Anis / Elsemary / AlTaher | Nanovate | Buch | Sack Fachmedien

    Anis / Elsemary / AlTaher Nanovate

    Commercializing Disruptive Nanotechnologies
    1. Auflage 2017
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-44861-9
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Elmasry / Anis | Multi-Threshold CMOS Digital Circuits | Buch | Sack Fachmedien

    Elmasry / Anis Multi-Threshold CMOS Digital Circuits

    Managing Leakage Power
    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2003
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-1-4613-5053-8
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Anis / Elmasry | Multi-Threshold CMOS Digital Circuits | Buch | Sack Fachmedien

    Anis / Elmasry Multi-Threshold CMOS Digital Circuits

    Managing Leakage Power
    2003. Auflage 2003
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-1-4020-7529-2
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Anis / Abu Rahma | Nanometer Variation-Tolerant SRAM | Buch | Sack Fachmedien

    Anis / Abu Rahma Nanometer Variation-Tolerant SRAM

    Circuits and Statistical Design for Yield
    2013
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-1-4939-0220-0
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Anis / Abu Rahma | Nanometer Variation-Tolerant SRAM | Buch | Sack Fachmedien

    Anis / Abu Rahma Nanometer Variation-Tolerant SRAM

    Circuits and Statistical Design for Yield
    2012
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-1-4614-1748-4
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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