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Mohab Anis
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Anis / Elsemary / AlTaher Nanovate
Commercializing Disruptive NanotechnologiesSoftcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2017Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-319-83151-0Medium: Buch128,39 € (inkl. MwSt.)
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Anis / Elsemary / AlTaher Nanovate
Commercializing Disruptive Nanotechnologies1. Auflage 2017Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-319-44861-9Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Anis / Abdel Halim / Chawky Mapping Innovation
The Discipline of Building Opportunity across Value Chains1. Auflage 2023Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-030-93629-7Medium: Buch53,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Anis / Abdel Halim / Chawky Mapping Innovation
The Discipline of Building Opportunity across Value Chains1. Auflage 2023Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-030-93626-6Medium: Buch53,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Anis / Chawky / Abdel Halim Mapping Innovation
The Discipline of Building Opportunity across Value Chains1. Auflage 2023Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-030-93627-3Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: Wasserzeichen (»Systemvoraussetzungen)53,49 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Anis / Elmasry Multi-Threshold CMOS Digital Circuits
Managing Leakage Power2003. Auflage 2003Verlag: SpringerISBN: 978-1-4020-7529-2Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Abu Rahma / Anis Nanometer Variation-Tolerant SRAM
Circuits and Statistical Design for Yield2012Verlag: Springer USISBN: 978-1-4614-1749-1Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)96,29 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Anis / Abu Rahma Nanometer Variation-Tolerant SRAM
Circuits and Statistical Design for Yield2013Verlag: SpringerISBN: 978-1-4939-0220-0Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Anis / Abu Rahma Nanometer Variation-Tolerant SRAM
Circuits and Statistical Design for Yield2012Verlag: SpringerISBN: 978-1-4614-1748-4Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Mostafa / Anis / Elmasry Design for Yield and Reliability for Nanometer CMOS Digital Circuits
Statistical design, Soft errors modeling, Adaptive body bias, Negative capacitance circuitsErscheinungsjahr 2014Verlag: LAP LAMBERT Academic PublishingISBN: 978-3-659-51361-9Medium: Buch59,90 € (inkl. MwSt.)
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Anis / AlTaher / Sarhan Nanovate
Commercializing Disruptive Nanotechnologies1. Auflage 2017Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-319-44863-3Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: Wasserzeichen (»Systemvoraussetzungen)96,29 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Elmasry / Anis Multi-Threshold CMOS Digital Circuits
Managing Leakage PowerSoftcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4613-5053-8Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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